詢價(jià)
- 測試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測器：SDD探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家研發(fā)、生產(chǎn)X熒光鍍層測厚儀,直讀光譜儀，手持式光譜儀，手持式合金分析儀，氣相質(zhì)譜儀,液相質(zhì)譜儀，X熒光測厚儀，電感耦合等離子發(fā)射光譜儀，等離子體質(zhì)譜儀,手持式不銹鋼材質(zhì)檢測光譜儀,鍍層膜厚測試儀，X熒光測厚儀的廠家，分析儀器上市公司，公司坐落于江蘇省蘇州市昆山市，歡迎廣大客戶前來參觀考察。
Thick800A鍍層測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)生產(chǎn)的用于鍍層行業(yè)的一款無損測試儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中應(yīng)用廣泛。
技術(shù)指標(biāo)
X熒光測厚儀型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
X熒光測厚儀注意事項(xiàng)
開啟儀器電源開關(guān)時(shí)，動(dòng)作要慢、不可用力過猛、以免損壞按鍵。
向樣品腔放置樣品時(shí)，要注意樣品的潔凈，不可使塵粒掉入其中，否則會(huì)污染X光管和探測器窗口，造成測量失準(zhǔn)和探頭損壞；同時(shí)，還要注意輕拿輕放（使用鑷子等器具取放樣品），以免測量窗口的薄膜被破壞。
樣品蓋需要經(jīng)常用酒精棉球清潔。
X熒光測厚儀每次開機(jī)后，儀器都必須先預(yù)熱30分鐘，然后進(jìn)行初始化，方可進(jìn)行正常的檢測工作。
測量不同類型的樣品時(shí)，需從程序欄中選擇其對應(yīng)的選項(xiàng)，才能保證的測量效果。
為使儀器能長期保持工作正常，需定期對儀器的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測試，并進(jìn)行調(diào)整。
X熒光測厚儀：Thick800A
測定步驟：
步：新建SnPb-Cu鍍層厚度標(biāo)準(zhǔn)曲線
第二步：確定測試時(shí)間：40S
第三步：測試其重復(fù)性得出相對標(biāo)準(zhǔn)偏差
天瑞儀器產(chǎn)業(yè)園期已經(jīng)竣工并于2010年5月投產(chǎn)使用。天瑞儀器分析測試產(chǎn)業(yè)園歷經(jīng)三年建設(shè)，總投資數(shù)億元的現(xiàn)代化園區(qū)占地100畝。產(chǎn)業(yè)園分為期和第二期，期總建筑面積約34，000平方米，投資逾億建設(shè)的10層高智能化研發(fā)大樓以及工業(yè)別墅廠房目前已完工投入使用， 園區(qū)按“統(tǒng)一規(guī)劃、合理布局”的原則，堅(jiān)持高起點(diǎn)、高標(biāo)準(zhǔn)、高質(zhì)量的要求，生產(chǎn)廠房設(shè)計(jì)完全符合現(xiàn)代儀器制造環(huán)境的要求。負(fù)壓式通風(fēng)、除塵設(shè)施、自然采光設(shè)計(jì)與防靜電等技術(shù)的應(yīng)用，保證了良好的生產(chǎn)環(huán)境，符合國際環(huán)保和節(jié)能的要求，體現(xiàn)了綠色生產(chǎn)的理念。
