詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
能量色散型XRF鍍層分析儀是天瑞公司經(jīng)過多年經(jīng)驗研發(fā)的一款專門針對鍍層行業(yè)的儀器。該儀器支持全自動軟件操作，能夠進行多點測試，由軟件控制測試位置和移動平臺。它功能強大，配合專為其設(shè)計的軟件，在鍍層領(lǐng)域表現(xiàn)出色。
詳情介紹
能量色散型XRF鍍層分析儀的性能特點
滿足各種厚度和不規(guī)則表面樣品的測試需求。
φ0.1mm的小孔準直器能夠滿足微小測試點的要求。
高精度移動平臺能夠定位測試點，其重復定位精度小于0.005毫米。
使用高精度激光，可以自動確定測試的高度。
能量色散型XRF鍍層分析儀通過激光定位來確定測試點，以確保測試位置與光斑對齊。
鼠標可以用來控制移動平臺，鼠標點擊的位置即為待測點。
高分辨率探頭能夠提升分析結(jié)果的準確性。
優(yōu)良的輻射屏蔽效果
測試口高度敏感傳感器的保護措施
能量色散型XRF涂層分析儀的技術(shù)參數(shù)
型號：厚型800A
元素分析的范圍包括從硫(S)到鈾(U)。
一次可以同時分析多達24種元素，具有五層鍍層。
分析的檢出限達到2ppm，薄膜的測試厚度可達到0.005μm。
分析含量通常在2ppm到99.9%之間。
鍍層的厚度通常不超過50微米（具體視材料而定）。
可以選擇的多個分析與識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)修正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量的重復性可達到0.1%。
長期工作的穩(wěn)定性可達到0.1%。
適宜的溫度范圍為15℃至30℃。
電源要求：交流220V±5V，建議使用交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸為：寬576毫米 x 深495毫米 x 高545毫米。
體重：90公斤
標準配置
開放式樣品室。
能量色散型XRF鍍層分析儀配備了精密的二維移動樣品平臺，同時具備可上下移動的探測器和X光管，實現(xiàn)三維位移。
雙激光定位系統(tǒng)。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin 探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴墨打印機
應(yīng)用領(lǐng)域
對黃金、鉑金、白銀等貴金屬及各種珠寶首飾進行成分檢測。
金屬鍍層厚度的測量以及電鍍液和鍍層成分的分析。
能量色散型XRF鍍層分析儀主要應(yīng)用于貴金屬加工與珠寶制作行業(yè)，銀行、珠寶銷售及檢測機構(gòu)，以及電鍍行業(yè)。
