詢價(jià)
- 企業(yè)類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號(hào)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：SDD探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
鍍金膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
鍍金膜厚測(cè)試儀hick800A是一種廣泛使用的能量色散X射線熒光光譜儀，配有高分辨率的超薄φ窗SDD探測(cè)器，探測(cè)器分辨率可達(dá)139eV，性能優(yōu)異。本產(chǎn)品采用上照式設(shè)計(jì)，具有多重防輻射保護(hù)裝置和X射線發(fā)生器，保證輻射劑量符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。采用CCD攝像頭、數(shù)字多道分析器、激光定位技術(shù)和自主研發(fā)測(cè)厚分析軟件的樣品觀察系統(tǒng)，各項(xiàng)指標(biāo)均符合相關(guān)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，性能先進(jìn)。
技術(shù)指標(biāo)
儀器：鍍金膜厚測(cè)試儀
尺寸：576(寬)×495（深）×545（高）mm
樣品室寬度為：500mm(寬度)×350mm(深)×140mm(高)。
樣品臺(tái)尺寸：230mm(寬)×210mm（深）
鍍金膜厚測(cè)試儀 Z軸升降平臺(tái)的升降范圍為0~140mm。
該平臺(tái)的移動(dòng)測(cè)量范圍為：總寬度50毫米×深層500mm×高度135mm。
分析方法：能量色散X射線熒光分析法與FPEC法相結(jié)合。
在原子序數(shù)16(硫)至92(鈾)之間，XRF鍍層測(cè)厚儀的檢測(cè)元素范圍可以進(jìn)行檢測(cè)。
與此同時(shí)，檢驗(yàn)元素可一次分析24種，支持五層鍍層的檢驗(yàn)。
檢測(cè)限制：金屬鍍層的分析靈敏度可達(dá)0.005μm。
厚度范圍：一般情況下，鍍層厚度分析為50。μm內(nèi)(具體情況因材料而異)。
鍍金無(wú)損厚度測(cè)量?jī)x的穩(wěn)定性：重復(fù)測(cè)量精度可達(dá)1%。
測(cè)試時(shí)間為30-60分鐘。
探測(cè)器及分辨率：25毫米2SDD探測(cè)器在Be窗口，分辨率為140?！?eV。
起源：50KV/1000uA-W靶X光管及高壓電源。
DMCA數(shù)字多道分析技術(shù)，可分析4096條數(shù)據(jù)通道。
固定準(zhǔn)直器和濾光片Ф另外，0.2mm的準(zhǔn)直器可以選擇其它孔徑和鋁濾光片。
鍍金無(wú)損厚度測(cè)量?jī)x的定位特點(diǎn)：平臺(tái)電機(jī)的重復(fù)定位精度低于0.1μm。
樣品觀察：配置CCD彩色攝像頭，圖像放大倍數(shù)達(dá)40倍，能清晰定位細(xì)微樣品。
平臺(tái)穩(wěn)定性:Z軸測(cè)試平臺(tái)采用恒力彈簧平衡重力，使平臺(tái)能以恒力上下移動(dòng)，從而減輕Z軸電機(jī)的負(fù)擔(dān)，提高Z軸的垂直度。
安全雙重安全防護(hù)設(shè)施:包括防撞激光檢測(cè)器和樣品室門的開(kāi)合傳感器。系統(tǒng)待機(jī)時(shí)無(wú)輻射，工作時(shí)輻射水平遠(yuǎn)低于國(guó)際安全標(biāo)準(zhǔn)，配備軟件聯(lián)動(dòng)裝置。
工作環(huán)境的溫度和濕度范圍為：15℃至30℃，濕度不超過(guò)70%。
該儀器的重量為90公斤。
