詢價(jià)
- 品牌：HIOKI日置
- 質(zhì)保：一年
- 全新：正品
日置 HIOKI LCR / 阻抗測試儀全系列分類與型號(hào)詳解
日置阻抗測量設(shè)備分為通用臺(tái)式 LCR 電橋、高速產(chǎn)線電容分選儀、寬頻多功能阻抗分析儀、高頻 RF 阻抗分析儀、電化學(xué)阻抗分析儀五大產(chǎn)品線，覆蓋 1mHz~3GHz 全頻段，適配元器件產(chǎn)線、電源 / 壓電研發(fā)、射頻、電池電化學(xué)測試全場景，全系 3 年質(zhì)保HIOKI日置。
一、通用臺(tái)式 LCR測試儀（主流元器件產(chǎn)線 / 實(shí)驗(yàn)室，DC~8MHz）
1. LCR測試儀IM3523（產(chǎn)線經(jīng)濟(jì)型主力）
頻率：DC、40Hz～200kHz
精度：±0.05% 讀數(shù)
速度：最快 2ms / 次，高速連續(xù)混合測量（C-D/ESR/L-Q）
信號(hào)：5mV~5V、10μA~50mA，4 端子測量 + 接觸電阻報(bào)警
接口：EXT I/O 分選、USB/LAN/RS232，60 組測量條件存儲(chǔ)
適用：電解電容 ESR、功率電感 DCR、通用電阻 / 電容批量產(chǎn)線檢測、自動(dòng)化分選機(jī)配套
2. LCR測試儀IM3533 / IM3533-01（變壓器 / 互感專用）
IM3533：DC~1MHz，標(biāo)配變壓器匝數(shù)比、互感測量，基礎(chǔ)產(chǎn)線研發(fā)兩用
IM3533-01：升級掃頻功能，支持頻率 / 電壓掃描，適合線圈、變壓器研發(fā)評估
其余規(guī)格同 IM3523，2ms 高速測量，BIN 分選判定Hioki Indonesia
3. IM3536（通用研發(fā)旗艦，8MHz 寬頻）
頻率：DC、4Hz～8MHz（可定制 10MHz），步進(jìn)精細(xì)可調(diào)
精度：±0.05%，1mΩ 低阻高精度保證
速度：最快 1ms，支持 DC 內(nèi)置偏壓模擬實(shí)載工況
功能：頻率 / 電壓 / 電流三維掃描、同時(shí)多參數(shù)繪圖、U 盤存儲(chǔ)數(shù)據(jù)、介電常數(shù) / 磁導(dǎo)率計(jì)算
適用：壓電元件諧振、MLCC 高頻特性、功率電感、薄膜電容、PCB 阻抗研發(fā)測試HIOKI日置
二、高速電容分選儀（C HiTESTER 3504 系列，MLCC 專用產(chǎn)線）
專為貼片電容高速分選設(shè)計(jì)，速度遠(yuǎn)高于普通 LCR，貼片機(jī) / 分選機(jī)配套
3504-40：1kHz 標(biāo)準(zhǔn)頻率，通用中小容量 MLCC
3504-50：100kHz，中高壓陶瓷電容
3504-60：1MHz，小容量高頻 MLCC
速度：2ms 超快測量，DC~1MHz，內(nèi)置高速比較器，適配全自動(dòng)編帶機(jī)HIOKI日置
三、多功能阻抗分析儀（IM3570，5MHz 一體 LCR + 分析）
頻率：DC、4Hz～5MHz
速度：最快 0.5ms，兼具產(chǎn)線高速 + 研發(fā)圖形分析
核心優(yōu)勢：等效電路擬合、Cole-Cole 圖、頻率掃描曲線、多條件自動(dòng)對比
適用：聚合物電容、壓電陶瓷、新能源功率電感、電源元器件寬頻特性分析，兼顧產(chǎn)線抽檢與實(shí)驗(yàn)室研發(fā)Hioki Indonesia
四、高頻 RF 阻抗分析儀（IM7580 系列，射頻 1MHz~300MHz）
IM7580A（300MHz）
頻段：1MHz～300MHz，RF I-V 測量法
速度：0.5ms 高速，半機(jī)架緊湊型機(jī)身
配套：IM9201 SMD 高頻治具，測 0402/0603 等貼片射頻元件
適用：磁珠、射頻電感、高頻 MLCC、濾波器、天線元器件產(chǎn)線與研發(fā)
IM7580S：增加等效電路自動(dòng)分析、仿真模擬功能，研發(fā)頂配款HIOKI日置
五、電化學(xué)阻抗分析儀（IM3590，電池 / 材料專用，1mHz 起低頻）
頻率：1mHz～200kHz（超低頻，電化學(xué)專屬）
核心：極小交流測試信號(hào)，支持 Cole-Cole 奈奎斯特圖、等效電路擬合
適用：鋰電池 / 超級電容 EDLC、電解液、電極材料、腐蝕阻抗、電化學(xué)傳感器測試HIOKI日置
六、高頻超高階機(jī)型（拓展至 3GHz，射頻無源器件）
IM7570 系列：1MHz~3GHz，面向射頻濾波器、諧振器、高速線纜、射頻器件高精度阻抗測量，多用于通信射頻研發(fā)實(shí)驗(yàn)室。
