Bruker QUANTAX系列X射線能譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中用到的測(cè)量固體樣品、薄膜、微粒化學(xué)成分的分析技術(shù)。應(yīng)用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時(shí)探測(cè)和分析低至B的所有元素分析。從一個(gè)只有幾微米的樣品獲得元素信息，提供質(zhì)量百分?jǐn)?shù)的十分之一的相對(duì)檢出限，使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。 布魯克 AXS顯微分析部門推出的新的EDS系統(tǒng)的QUANTAX 系列對(duì)于廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域能提供可靠的結(jié)果，其測(cè)量速度是空前的，并且測(cè)量準(zhǔn)確、容易操作。

我們獨(dú)有的不用液氮冷卻的XFlash® 硅漂移探測(cè)器(SDD)與的Hybrid 脈沖處理技術(shù)相結(jié)合能獲得的能量分辨率和比常規(guī)Si(Li)探測(cè)器快十倍的測(cè)量速度。 QUANTAX 配有界面友好、功能強(qiáng)大的新的ESPRIT軟件。進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣分析，進(jìn)行與標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的定量分析，或二種方法的結(jié)合，ESPRIT軟件為各種應(yīng)用提供的工具。 如果你需要X射線顯微分析的宣傳資料，請(qǐng)聯(lián)系我們索取信息。 QUANTAX是可應(yīng)用各種SEM和TEM的能量色散X射線顯微分析儀器。

為適應(yīng)各種分析任務(wù)和應(yīng)用環(huán)境，QUANTAX 有幾個(gè)檔次和各種選件可供選擇。各種水平的QUANTAX 系統(tǒng)都有的定性分析和真正的無(wú)標(biāo)樣定量分析方法。對(duì)于一些專門的分析任務(wù)，可選用基于Φ(ρ, z)的定量分析包。

直觀的用戶界面、靈活的項(xiàng)目管理包、報(bào)告的快速或完整的生成，獨(dú)特的ESPRIT軟件為用戶提供了直觀而簡(jiǎn)單的操作工具，也為用戶提供了很多功能強(qiáng)大的選項(xiàng)。 不管你使用帶液氮冷卻的Si(Li)探測(cè)器，還是使用不用液氮的具有創(chuàng)新的SDD技術(shù)的 XFlash 探測(cè)器，或者在一臺(tái)儀器上使用多個(gè)探測(cè)器，我們的X射線探測(cè)器能提供的可靠性和測(cè)量性能。 QUANTAX ESPRIT軟件包 現(xiàn)代的圖形用戶界面顯示了所有的對(duì)分析者而言重要的信息，分析人員一眼就可以看到，并可以立即進(jìn)入最常用的功能。有幾種顯示模式，如總覽、全屏顯示。  簡(jiǎn)單的操作理念和直觀的向?qū)?，集成?"助手"功能，完整的在線幫助，使初學(xué)者能很快熟悉分析系統(tǒng)。 分析軟件的高效性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并滿意這個(gè)軟件。交互式、循序漸進(jìn)式的光譜評(píng)估程序?qū)Ψ治鲇泻艽髱椭?，尤其是非常?fù)雜的分析任務(wù)。

布魯克 AXS 顯微分析公司個(gè)在工業(yè)上應(yīng)用了最近修訂擴(kuò)展的原子數(shù)據(jù)庫(kù)，一些重要的基本參數(shù)有助于提高定性和定量分析的精度。

技術(shù)參數(shù)：

QUANTAX系列探測(cè)器種類：
1） UHV Devar Si(Li) 液氮制冷探測(cè)器
2） XFlash® SDD硅漂移探測(cè)器
1．UHV Devar Si(Li)液氮制冷探測(cè)器
* 采用獨(dú)特的UHV Devar technology，這使得它的絕熱效果非常好，因而具有很少的液氮消耗量，同時(shí)也很好的杜絕了窗口部分可能出現(xiàn)的冷凝現(xiàn)象。
* 的真空質(zhì)量也同時(shí)可以有效地保護(hù)探測(cè)器晶體，從而保證探測(cè)器能夠長(zhǎng)期穩(wěn)定高效地工作。
* 與普通的Si(Li)探測(cè)器相比，UHV Devar探測(cè)器還具有體積小(3.8L)、重量輕以及制冷快的特點(diǎn)。
* 探測(cè)器具有的能量分辨率(≤129eV)。
* 采用QUANTAX SLEW超輕元素窗口，可以從硼元素(5)測(cè)起。另外還有具有優(yōu)良的高溫穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性的窗口可供選擇。
* 輕元素窗口使探測(cè)器能夠從B元素開始測(cè)起。
* 具有優(yōu)良的工作穩(wěn)定性。
* 可以保證探測(cè)器晶體零污染。
2．XFlash SDD硅漂移探測(cè)器―――開創(chuàng)一個(gè)新紀(jì)元
* 具有無(wú)液氮、高分辨率、高輸出計(jì)數(shù)率三大特點(diǎn)。
* Xflash® 是商用的SDD探測(cè)器，布魯克ASX公司是SDD技術(shù)領(lǐng)域的領(lǐng)跑者，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展到第四代，目前在世界范圍內(nèi)擁有大量的用戶。
* 采用二級(jí)Peltier效應(yīng)的電致冷方式保證探測(cè)器長(zhǎng)期穩(wěn)定工作，而不需要任何制冷劑和外部制冷設(shè)備，同時(shí)也避免了其他機(jī)械制冷方式可能引起的振動(dòng)。
* Xflash® 的能量分辨率指標(biāo)在1000cps~150,000cps的輸入計(jì)數(shù)條件下，可以保持在(Mn元素分辨率≤125eV，F(xiàn)元素分辨率≤58eV，C元素分辨率≤48eV?)，這一革命性的125ev的分辨率使Xflash® SDD探測(cè)器在輕元素的探測(cè)和定量分析方面具有顯著的優(yōu)勢(shì)。
* 即使是在高的輸入計(jì)數(shù)率情況下，Xflash® 仍然具有很高的分辨率，因此在進(jìn)行面掃描時(shí)，采用Xflash® 比采用常規(guī)的Si(Li)探測(cè)器節(jié)省幾個(gè)量級(jí)的時(shí)間。
* 無(wú)振動(dòng)，具有低的維護(hù)和操作費(fèi)用，體積小、重量輕。
* 采用混合脈沖信號(hào)處理器使得Xflash® SDD探測(cè)器達(dá)到更高的計(jì)數(shù)率。系統(tǒng)速度是使用數(shù)字脈沖信號(hào)處理器的常規(guī)的Si(Li)探測(cè)器的十倍。
3．ESPRIT分析軟件界面友好，操作簡(jiǎn)便
* 具有基于P/B(ZAF)方法的無(wú)標(biāo)樣定量分析功能并可對(duì)粗糙、顆粒等不同表面形貌樣品進(jìn)行分析。
* ESPRIT分析軟件具有最豐富的原子信息數(shù)據(jù)庫(kù)，這可以大大提高儀器的元素鑒別能力和重峰分離能力，使得定量成分分析變得更加精確可靠。
* 可以根據(jù)韌致輻射的物理模型計(jì)算背底，OLeQ分析功能可大大提高對(duì)輕元素定量分析的準(zhǔn)確性。
* 提供更快速和準(zhǔn)確的實(shí)時(shí)線掃描和面掃描分析功能，對(duì)元素種類和數(shù)目無(wú)限制并可達(dá)到65536種顏色的面掃描效果。
QUANTAX系列探測(cè)器的接口都是單獨(dú)定制的，因此可以適用于各種型號(hào)和品牌的電子顯微鏡，并且能夠化立體角和取出角。