高精度,無(wú)接觸的表面粗糙度測(cè)量
如今,隨著新的測(cè)量技術(shù)和材料的出現(xiàn),表面粗糙度測(cè)量技術(shù)也發(fā)生新的變化. 傳統(tǒng)的輪廓觸針式測(cè)量模式往往不能將三維的以及一些軟薄壁材料的粗糙度值測(cè)量出來(lái)。所以無(wú)接觸的光學(xué)測(cè)量能夠滿足廣大客戶的需要 甚至能夠完成高精度的測(cè)量. MarSurfWS 1能夠滿足粗糙度測(cè)量的所有需要: 垂直分辨濾達(dá)到0.1nm 幾秒鐘的時(shí)間即可完成三維的測(cè)量和評(píng)定 簡(jiǎn)單小巧的設(shè)計(jì)適用于車間和實(shí)驗(yàn)室使用 MarSurfXT 20軟件 掃描軟件建立在強(qiáng)大的MarWin平臺(tái)上 |