美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀

美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品簡介

TSI3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測量?；赥SI40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，

本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。

同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨(dú)使用，而且還可以放入TSI的外場環(huán)境箱中在野外使用。

美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 產(chǎn)品特點(diǎn)：

• 0.5微米時(shí)粒徑分辨率小于5%
• 粒徑通道用戶可調(diào)
• 檢測粒徑范圍：0.3-10微米，最多16通道
• 顆粒物粒徑感應(yīng)范圍：0.5至25 mm
• 檢測濃度范圍：0-3000 個(gè) /cm3
• 彩色觸摸屏，直觀的用戶界面
• 完全滿足ISO 21501-01/04要求
• 輸入折射率和密度可以同時(shí)顯示顆粒物數(shù)濃度和質(zhì)量濃度
• 收集的采樣膜可進(jìn)行稱重測量和化學(xué)分析
• 電池電量可供20小時(shí)的操作
• 最多可存儲(chǔ)30000個(gè)數(shù)據(jù)
• 記錄每個(gè)樣品的溫度和壓力

美國TSI 3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀 技術(shù)參數(shù)
測量原則 ：
120°光散射和濾膜采樣
濃度限制：
3,000個(gè)/ cm3 （3,000,000個(gè)/L）
質(zhì)量濃度 ：
0.001-275,000 mg/m3
顆粒物粒徑：
檢測粒徑范圍：0.3-10 mm 
粒徑分辨率：0.5mm時(shí)5%（符合ISO 21501-01/04）
粒徑通道 ：最多16通道，用戶可調(diào)