日本島津X射線熒光光譜儀器 EDX-720

射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是最近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，暢銷全球的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。

通過配置新型1次濾光片和高計(jì)數(shù)電路，靈敏度比以往機(jī)型提高2倍以上！
  配備新型1次濾光片
  為提高Cd、Pb等有害重金屬的檢測靈敏度，采用2種新型濾光片。通過提高S/N比、降低散射線，得到了比以往機(jī)型更高的靈敏度。
  計(jì)數(shù)系統(tǒng)的改進(jìn)
  經(jīng)過改進(jìn)，系統(tǒng)能夠更高效地檢測從樣品產(chǎn)生的X射線熒光。以此降低了檢測器的飽和，可進(jìn)行較以往機(jī)型更高輸出的測定。并有助于提高分析精度。

通過在測定前預(yù)先設(shè)定目標(biāo)管理精度，當(dāng)達(dá)到管理值時(shí)，自動(dòng)結(jié)束測定。特別是在目標(biāo)元素含量較高時(shí)，可在短時(shí)間內(nèi)自動(dòng)結(jié)束測定。既提高了分析效率，又無需以往根據(jù)經(jīng)驗(yàn)設(shè)定測定時(shí)間，就可得到目的精度的分析結(jié)果，因此，便于管理。