可應(yīng)用在非均勻單一樣本上局部和準(zhǔn)確位置的精確測(cè)試的微焦點(diǎn)XRF分析儀

準(zhǔn)確測(cè)量無(wú)鉛焊料、電子元器件、電路板、貴重金屬、珠寶、藝術(shù)品、礦物質(zhì)和合金的化學(xué)組成成分；可專(zhuān)用于RoHS/WEEE規(guī)定的六種有害物質(zhì)檢測(cè)。

其具體特點(diǎn)如下：

1. 檢測(cè)光點(diǎn)大小在0.2mm-6mm之間可調(diào)
2. 數(shù)位彩色成像，且放大倍率能達(dá)到68倍
3. X-Y兩軸“Point與Shoot”定位測(cè)量模式
4. 大型樣品室適用于各種尺寸及形狀的樣品

Innov-X Hawk-i臺(tái)式XRF聚焦分析儀

采用了的X射線(xiàn)探測(cè)器和分析技術(shù)的。憑借著的測(cè)試速度與準(zhǔn)確性，Innov-X Hawk-i 臺(tái)式分析儀的應(yīng)用非常廣泛，包括ROHS/WEEE/無(wú)鉛電子元件的測(cè)試、珠寶設(shè)計(jì)、貴重金屬、多種合金分析以及法醫(yī)鑒定。Hawk-i 分析儀微小的X光束尺寸，可移動(dòng)的X-Y坐標(biāo)臺(tái)與先進(jìn)的光學(xué)技術(shù)使其應(yīng)用效果非常理想。

應(yīng)用說(shuō)明：

ROHS/WEEE/無(wú)鉛的電子元件
使用Hawk-i 系列分析儀可監(jiān)測(cè)：
*塑膠中的有毒金屬：Pb，Hg，Cd，Br，Cr以及更多。
*完全符合ROHS/WEEE具體條款要求
*檢測(cè)無(wú)鉛的電子元件：
*可作為新無(wú)鉛焊料QC。
*電子元件廢料中的金屬/合金測(cè)定。
*PCB板，連接器，電線(xiàn)和廢料上特殊點(diǎn)的分析。

珠寶
應(yīng)用Hawk-i 臺(tái)式分析儀可以分析黃金，白金，銀，鉑鈀合金。

貴重金屬
Hawk-i 系列分析儀可提供：
*青銅，黃銅，鋼及其它合金的元素分析。
*生產(chǎn)過(guò)程中的無(wú)損檢測(cè)。

法醫(yī)鑒定
在犯罪研究中，Hawk-i 系列分析儀有以下用途：
*證據(jù)分析：涂料、玻璃碎片、墨水、爆炸物的副產(chǎn)物。
*土壤、子彈、GSR中的金屬元素，Pb、Ba、Sb、合金。