| 品牌 | ARL | 型號 | ED2000 |
| 類型 | 金屬元素分析儀器 |
ED2000(X射線熒光光譜儀)
ED2000采用全數(shù)字化電子線路設(shè)計,其緊密耦合的X射線光學系統(tǒng)和Pentafet探測器專利技術(shù)實現(xiàn)了的計數(shù)率、的分辨率和的檢出下限。如分析土壤中的有害重金屬元素Cd時,檢出下限可達0.5ppm。
Pentafet專利技術(shù)克服了能量色散技術(shù)中,元素分辨能力隨計數(shù)率增高而下降的缺點,即使在較高計數(shù)情況下,仍可以得到優(yōu)良的元素分辨率。ED2000數(shù)字化電路技術(shù)提高了信號處理速度,縮短了分析時間。ED2000的計數(shù)率高于50,000cps;在17,000cps計數(shù)率的情況下,分辨率優(yōu)于140eV。