型號/規(guī)格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規(guī)格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規(guī)格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規(guī)格：ST-213072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的準和美國A..T.M準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜...

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型號/規(guī)格：TZ241-ST-2118#$%^19#$貿(mào)易商%^141#$全新%^638#$%^20#$中國

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀 型號:TZ241-ST-21 技術(shù)指標 測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9...

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型號/規(guī)格：TZ241-ST-2118#$%^19#$貿(mào)易商%^141#$全新%^638#$%^20#$中國

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀 型號:TZ241-ST-21 技術(shù)指標 測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9...

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型號/規(guī)格：TZ240-ST-212#$%^3#$貿(mào)易商%^125#$全新%^621#$%^4#$中國

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀 型號:TZ240-ST-21 技術(shù)指標 測量范圍 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔： 1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□； 2.方塊電阻 10.0～1999.9...

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型號/規(guī)格：ST-21L3072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：特點： 1 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部，測量準確穩(wěn)定，低功耗； 2 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰； 3 采用單個電池供電，帶電池...

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型號/規(guī)格：ST-213072#$電阻測試儀%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金...

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型號/規(guī)格：ST-213072#$電阻測試儀%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金...

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型號/規(guī)格：ST-21L1986#$%^1181#$%^1182#$%^1183#$%^1184#$%^1185#$%^1186#$%^1187#$%^1188#$%^1189#$%^1190#$%^1191#$%^1192#$%^1193#$

產(chǎn)品描述：特點：1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準穩(wěn)定，低功耗；2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X...

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型號/規(guī)格：ST-21L1986#$%^1181#$%^1182#$%^1183#$%^1184#$%^1185#$%^1186#$%^1187#$%^1188#$%^1189#$%^1190#$%^1191#$%^1192#$%^1193#$

產(chǎn)品描述：特點：1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準穩(wěn)定，低功耗；2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X...

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型號/規(guī)格：KDB-13072#$%^3073#$%^3074#$%^3075#$%^3076#$%^3077#$%^3078#$%^3079#$%^3080#$

產(chǎn)品描述：電阻率/方塊電阻測試儀 型號:KD09-KDB-1庫號：D410754 查看hhKDB-1電阻率/方塊電阻測試儀是嚴格按照相關(guān)標準及標準設(shè)計制造，用來測量半導體材料（主要是硅...

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型號/規(guī)格：JZ-ST21L型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-ST21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(...

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型號/規(guī)格：JZ-ST21L型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-ST21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(...

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型號/規(guī)格：JZ-ST2018#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-ST20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜...

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型號/規(guī)格：JZ-ST2018#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-ST20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜...

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型號/規(guī)格：FT-393102#$盤羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產(chǎn)品描述：五、 概述： 參照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型號/規(guī)格：FT-393102#$盤羊%^103#$制造商%^139#$全新%^104#$

產(chǎn)品描述：五、 概述： 參照硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及國家標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、...

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型號/規(guī)格：ST-21

產(chǎn)品描述：ST-21型方塊電阻測試儀是四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品，是一種依照類似標準和美國A.S.T.M標準而設(shè)計，專門測量半導體方塊電阻(或稱薄屋電阻、面電阻，...

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