集天瑞多年貴金屬檢測技術(shù)的經(jīng)驗，EDX600B使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器，以滿足貴金屬的成分測試和鍍層厚度測量的要求。二維的軟件控制移動平臺和激光定位裝置，使樣品上測試點的選擇更方便和準確；功能齊全的測試軟件、友好的操作界面，使測試工作輕松完成。
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