| 類型 | 薄膜測(cè)厚儀 | 品牌 | X熒光測(cè)厚儀 |
| 型號(hào) | 測(cè)量范圍 | 0.0001（mm） |
| 我司有美國(guó)THERMO X-RAY測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片和美國(guó)CalMetricsX光瑩光測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片 用于測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度的時(shí)候進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn) 這樣使用使得測(cè)厚儀所測(cè)的誤差值變小 張賢群 對(duì)于PCB，半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)，電鍍行業(yè) 使用測(cè)厚儀所造成的成本檢測(cè)起到了很重要的作用。 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般有分單層片，雙層片和多層片。如Cu為單層片Ag／Cu雙層片Cu-Zn／XX（Fe）多層片。 我司可以定做以知金屬元素的標(biāo)準(zhǔn)片如：Cu，Ni，Ag，Au，Zn，Sn等等 客戶在聯(lián)系我的時(shí)候請(qǐng)了解清楚自己所需要使用的元素，以便我們更好的溝通，合作。 |
