北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
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北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司
免企業(yè)未認(rèn)證證營(yíng)業(yè)執(zhí)照未上傳
經(jīng)營(yíng)模式：工廠
所在地：北京市
主營(yíng)產(chǎn)品：少子壽命測(cè)試儀,硅錠探傷儀,硅料分選儀,硅片自動(dòng)41點(diǎn)精密測(cè),手動(dòng)硅片測(cè)厚儀,碳氧含量測(cè)試儀,硅片表面線痕測(cè)試儀,硅料檢測(cè)分選儀,太陽能級(jí)硅少子壽命測(cè),硅棒、硅錠探傷儀,光伏檢測(cè)顯微鏡,薄膜方塊電阻測(cè)試儀,手持式電阻率測(cè)試儀,便攜式硅料分選儀,鎢鋼探針,全自動(dòng)硅片測(cè)厚
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| 單晶型號(hào)測(cè)試儀 單晶型號(hào)測(cè)試儀是快速鑒別硅晶材料的導(dǎo)電類型“P”和“N”的測(cè)量?jī)x器，測(cè)量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。 |
 功能特點(diǎn) |
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| 儀器采用進(jìn)口16位單片IC電路為，利用數(shù)字采集濾波技術(shù)，并用“P”和“N”數(shù)碼直接顯示，因而使測(cè)量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡(jiǎn)單，操作方便。 | |
| 技術(shù)指標(biāo) |
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■ 測(cè)量范圍： 硅單晶材料電阻率0.01~199.9Ω*cm | |
