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企業(yè)檔案

北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司

免企業(yè)未認(rèn)證證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式：工廠

所在地：北京市

主營產(chǎn)品：少子壽命測試儀,硅錠探傷儀,硅料分選儀,硅片自動(dòng)41點(diǎn)精密測,手動(dòng)硅片測厚儀,碳氧含量測試儀,硅片表面線痕測試儀,硅料檢測分選儀,太陽能級硅少子壽命測,硅棒、硅錠探傷儀,光伏檢測顯微鏡,薄膜方塊電阻測試儀,手持式電阻率測試儀,便攜式硅料分選儀,鎢鋼探針,全自動(dòng)硅片測厚

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單晶型號測試儀
單晶型號測試儀是快速鑒別硅晶材料的導(dǎo)電類型“P”和“N”的測量儀器，測量范圍寬，硅材料電阻率從0.01~199.9Ω*cm。

功能特點(diǎn)
儀器采用進(jìn)口16位單片IC電路為，利用數(shù)字采集濾波技術(shù)，并用“P”和“N”數(shù)碼直接顯示，因而使測量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性大幅度提高。儀器采用手持式三探針探頭，使用簡單，操作方便。
技術(shù)指標(biāo)
■ 測量范圍：硅單晶材料電阻率0.01~199.9Ω*cm ■ 可測量材料：半導(dǎo)體硅棒和硅片、硅碎顆粒 ■ 顯示方式： P、N直顯 ■ 測試探頭：手持式三探針（高速鋼）