法向發(fā)射率測量裝置的詳細(xì)信息

• 測量范圍：——(mm)

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MJLD型法向發(fā)射率測量裝置
產(chǎn)品介紹
MJLD型法向發(fā)射率測量裝置，主要用于測量材料的太陽法向發(fā)射率。配有計算機和專用工作軟件，實現(xiàn)自動測量的先進測量設(shè)備。本裝置是由國防航天科技企業(yè)和航天研究員聯(lián)合研制。是航天系統(tǒng)測量的智慧結(jié)晶。本設(shè)備是國內(nèi)，填補國內(nèi)測量材料太陽法向發(fā)射率儀器的空白，同時在測量方法上有進一步的創(chuàng)新。
主要用途
測量材料表面的法向發(fā)射特性。技術(shù)指標(biāo)?

法向發(fā)射率
◆測量范圍：0.0 5～0.9 9
◆工作溫度范圍：室溫～100℃
◆測量不確定度：當(dāng)εn＞0.7 為±1.5％；當(dāng)εn＜0.2 為±5％；其余為2％
◆探測器：平面熱電堆
◆峰值波長：8.4～11μm