ATE芯片測(cè)試儀的詳細(xì)信息

• 分辨率：(μS/cm)
• 電源：(V)
• 被測(cè)試樣的溫度：——(℃)
• 測(cè)量：——(%)
• 溫度補(bǔ)償誤差：——(%)
• 測(cè)量范圍：——(ppm)
• 尺寸：**(mm)
• 用途：
• 電子單元基本誤差：——(%)
• 重量：(kg)
• 使用條件：

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工業(yè)應(yīng)用：一、來料檢測(cè)：IC在使用前進(jìn)行品質(zhì)檢驗(yàn)，挑出不良品，提高SMT的良品率。IC的品質(zhì)光憑肉眼是看不出來的，必須通過加電檢測(cè)，常用的方法檢測(cè)IC的電流、電壓、電感、電阻、電容、不能完全判斷IC的好壞；通過IC檢測(cè)夾具應(yīng)用功能仿真程序，可以判斷IC的好壞。二、???????????? 返修檢測(cè)：在生產(chǎn)過程中主板出現(xiàn)問題，不好判斷！有了IC檢測(cè)工具，把拆下的IC放入儀器內(nèi)能排除是否IC方面的原因。三、???????????? IC分檢：返修的IC，在拆下的過程中可能損壞，用IC測(cè)試工具可以將壞的IC分檢出來，可以節(jié)省很多人力，物力，從而減小各項(xiàng)成本。拿BGA封裝的IC來說，如果IC沒有分檢，壞的IC貼上經(jīng)過FCT測(cè)試檢查出來后，把IC拆下來，要烘烤、清洗，很麻煩，還有可能損壞相關(guān)器件。用IC測(cè)試夾具檢測(cè)就可以大量減少出現(xiàn)上述問題的幾率。? 測(cè)試范圍??????? --邏輯電路類???????? 74系列、54系列、CD系列，信號(hào)開關(guān)觸發(fā)器 鎖存器 寄存器等???????? --微處理器類????????? 8位/16位/32位微控制器、汽車微控制器ARM內(nèi)核32位嵌入式數(shù)字信號(hào)處理器????????? （DSP）??????? --可編程邏輯電路?????????? FPGA、CPLD、PAL、GAL、PLD等???????????? ????????????? 可根據(jù)客戶特殊要求定制歡迎來電咨詢?????????????? 博基興業(yè)--您騰飛的基石???????????????????????? ????????????????????????????? 放飛心靈，愜意生活！???????? ???? ???????????? 楊先生?***************************************************北京博基興業(yè)科技有限公司TEL:MOB:FAX:MSN:yang@ADD:北京市海淀區(qū)知春路108號(hào)豪景大廈c座1501室EMAIL:yang@**************************************