NanoIR測試平臺將可調(diào)制紅外光源與AFM掃描模塊完美結(jié)合,同時實現(xiàn)高分辨率材料納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學(xué)性能成像分析。該技術(shù)榮獲2010年度美國R&D100大獎。
主要參數(shù):
光譜范圍:1200-3600cm-1
光譜分辨率:<16 cm-1
成像尺寸:100μmX100μm
單幅光譜獲取時間:<1分鐘/每幅
主要特點:
獨有技術(shù)突破傳統(tǒng)紅外光譜衍射極限,實現(xiàn)納米尺度紅外光譜采集
可同時獲得納米尺度上的形貌、紅外光譜、熱以及力學(xué)性能成像分析

