Dimension FastScan
世界上掃描速度快的原子力顯微鏡
掃描速度的全新詮釋，擁有的掃描分辨率，優(yōu)異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下，限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。
為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像?？焖賿呙柽@一變革性的技術創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。
高效率
- 在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調節(jié) 和檢測器調節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。
- 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完美結合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù) 的可信度和可重復性。
高分辨率
- Fastscan的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。
- 掃描速度20Hz時仍能獲得高質量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質量的ScanAsyst圖像。
- 低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。
- 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描管極大地降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。
- Fast Scan可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到100多納米的樣品高無失真掃描。
在任何樣品上均有卓越表現(xiàn)
AFM掃描速度的新定義
Dimension Fastscan是世界上臺將掃描速度、分辨率、度和噪音控制完美結合的AFM，真正實現(xiàn)了快速掃描原子力顯微鏡的商業(yè)化應用。為了實現(xiàn)AFM掃描速度變革性的提升，Bruker的工程師致力于AFM技術的改造和完善。
■采用熱漂移的針尖掃描AFM技術，提高了系統(tǒng)的固有振動頻率。
■應用新的NanoScope控制器，為機器提供了更高的帶寬。
■開發(fā)了小懸臂的生產(chǎn)工藝，在空氣中共振頻率為1.3MHz，在液體中共振頻率為250KHz到500KHz。
■采用了低噪音的機械和電子的主要部件，結合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術上獲得了重大突破。
■更高的帶寬提供了的力控制和高掃描速度，結合高的閉環(huán)控制，在效率上遠遠高于其它任何商業(yè)化的AFM。
■以20Hz掃描速度進行TappingMode成像得到的圖片的分辨率和以1Hz掃描速度得到的圖片的分辨率一樣高，即使使用更高的掃描速度>100Hz,圖像分辨率同樣不會降低。
■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的掃描速度可以得到高分辨率的圖片，即使掃描速度達到32Hz同樣可以得到普通分辨率的圖片。
■Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，同時在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s， X-Y方向的跟蹤誤差<1%，真正使Fastscan成為了世界上臺快速掃描AFM。
■ 自動的激光和檢測器的調節(jié)使得實驗的組建更為快速有效。
■ 系統(tǒng)使用自帶的樣品導航軟件MIRO，利用光學成像系統(tǒng)能夠在幾分鐘之內(nèi)分辨并抓取納米級的樣品特征。
新的光學系統(tǒng)可以使用任何Bruker的探針，在不降低系統(tǒng)穩(wěn)定性的前提下，得到的激光信號調節(jié)。
■ 針尖掃描系統(tǒng)的設計與210mm大尺寸樣品臺結合，消除了樣品尺寸的限制，同時維持了的噪音和熱漂移水平。
AFM性能
Dimension FastScan AFM 的分辨率，與Bruker特有的電子掃描計算方法相結合，提供給用戶顯著提升的測量速度與質量。Dimension Icon是我們工業(yè)的針尖掃描技術的新革新，配置了溫度補償位置傳感器，展現(xiàn)出Z軸亞埃級范圍和XY軸埃級范圍的噪音水平，這個驚人的性能出現(xiàn)在大樣品臺，34微米和90微米的掃描范圍的系統(tǒng)上，尤勝高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設計也能展現(xiàn)較高掃描速度，而不損壞圖像質量，實現(xiàn)更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。Icon 掃描管比當今市場上任何一款大樣品臺AFM具有更低的噪音水平和更高的度。這種革新與新的掃描和下針算法相結合，即使是在難測量的樣品上也能得到更高的圖像保真效果。
杰出的生產(chǎn)力
使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表的文章遠比其他大樣品臺原子力顯微鏡要多。在科研和工業(yè)生產(chǎn)的過程研究中已成為一個標志性的符號。FastScan把此平臺引入了更卓越的新水平，展現(xiàn)出更高的性能和更快地獲得測量結果。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往先進的AFM技術更加簡便?？梢允钩鯇W者在操作中，同樣得到級的圖像。Dimension FastScan用戶可以立即獲得高質量的結果，而無需像以前一樣通常需要幾小時的調整。Dimension FastScan的每個方面—從完全開放式針尖樣品空間，到預存軟件參數(shù)設置—都經(jīng)過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM操作簡易性。每分鐘低于200pm的熱漂移速率，全新的直觀用戶界面，世界聞名的Dimension AFM平臺，三者結合提供了無與倫比的AFM儀器性能，保證您在短時間內(nèi)得到測試結果并發(fā)表出版。
世界上靈活的平臺
Dimension FastScan 展現(xiàn)出的無與倫比的性能，堅固性和靈活度，使得這臺儀器實現(xiàn)了以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測量。利用開放式平臺，大型多元樣品支架和許多簡單易用的性能，將AFM強大的功能完全展現(xiàn)在科研領域和工業(yè)領域的研究者面前，為高質量AFM 成像和納米研究設定了新的標準。Dimension 系列原子力顯微鏡在不斷演變提升，以迎合您不斷增長的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力學、電學和電化學附件。
無與倫比的性能和多種附加模塊滿足您的一切科研需要
出眾的性能滿足各種應用需求
Dimension FastScan可同時高速捕捉多個通道的數(shù)據(jù)，獲得更多通道的高質量數(shù)據(jù)。結合我們Bruker的很多AFM技術，模式和模式增強功能，Dimension FastScan以其獨特的性能優(yōu)勢，幫助您完成更高水平的納米研究。
材料成像
FastScan在使用ICON的掃描管的情況下支持Bruker的PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速掃描掃描
管的情況下可進行納米力學成像。使用FastScan技術，大大減少了研究者獲得高分辨率形貌和納米力學圖譜的時間。
| 納米操縱 可實現(xiàn)在納米和分子級別的納米操縱和刻蝕。FastScan的XYZ閉環(huán)掃描器解決了掃描管的蠕變效應，大大提高了操縱的度。同時超低噪音的精密探針的準確定位，適用于任何納米操作系統(tǒng)。 |
| 加熱和冷卻 在以各種AFM 模式掃描的同時可實現(xiàn)-35℃到250℃的溫度的控制和熱分析。另外還可使用熱探針對低于100nm的局部加熱到500℃。 |
| 電學表征 使用的模式，可以在更高的靈敏度和更大的動態(tài)范圍上實現(xiàn)電學表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了獨特的電學表征方法，同時還可以與樣品上的力學屬性相聯(lián)系。 |
利用短時間獲得高質量可發(fā)表數(shù)據(jù)結果
無論是作為科研交流還是發(fā)表科學文章，Dimension FastScan可比以前快幾十倍至上百倍獲得的數(shù)據(jù)測量和高質量AFM圖片。真正的快速掃描AFM系統(tǒng)使您能夠運用簡易方法對大量數(shù)據(jù)進行快速準確的處理分析。
樣品篩選
利用AFM系統(tǒng)獲取大量樣品信，進行樣品常規(guī)篩選。無論是材料生產(chǎn)中進行失效分析或納米級的質量控制，及時的產(chǎn)品信息反饋是必不可少的產(chǎn)品質量控制過程。納米表征面臨提高表征速度的挑戰(zhàn)時，高精準度成為必備條件。在獲取藥物配方的過程中需要大量的數(shù)據(jù)對其中的非晶藥物成分進行篩選，這可能成為FastScan的一個新用途。
動態(tài)應用范例
另一種常見的應用是觀察一個納米級物體在外部條件變化或受刺激的情況下，隨著時間產(chǎn)生變化的過程。無論是在空氣中還是在液體中，對納米尺度的動態(tài)變化觀察都是極具研究價值的。Dimesion FastScan為這種實驗提供了極為便利的條件。
