儀器簡介：
技術(shù)參數(shù)：
主要特點：
Dektak 8臺階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和。獨特的X–Y方向定位系統(tǒng)可移動到8 x 8 inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak 8系統(tǒng)對于MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。
技術(shù)參數(shù)：
臺階高度重復(fù)性: 7.5Å,1σ在1um標(biāo)準(zhǔn)臺階上
晶圓尺寸：200mm
樣品厚度：25.4mm （1 in.)
每次掃描數(shù)據(jù)點：多可達(dá)60，000數(shù)據(jù)點
掃描長度范圍：標(biāo)配50mm
垂直范圍：標(biāo)配262um；可選1mm
垂直分辨率：1Å (6.55微米垂直范圍下）
主要特點：
1. 臺階高度測量重復(fù)性高
2. 是功能為強(qiáng)大的探針輪廓儀，可限度的滿足各種應(yīng)用需要
3. 簡單易用
4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達(dá)200mm
