貝萊克Belec Compact Port仍然可以使用氬氣火花，幾秒鐘就可以從火花臺(tái)轉(zhuǎn)換到火花，這是既可用探頭對(duì)金屬作移動(dòng)式分析，又可用火花臺(tái)進(jìn)行固定分析的裝置。Belec Compact Port火花臺(tái)和火花的結(jié)合使用對(duì)材料驗(yàn)收是理想的。
新式可移動(dòng)的火花臺(tái)，
更可分析P磷及S硫 !!!
Belec公司新開(kāi)發(fā)的采用氬氣火花 “Argon special probe”可以分析P和S。與C元素不同，這兩個(gè)元素發(fā)射更短的波長(zhǎng)，而不能用光纖光束傳送，在探頭中安裝一個(gè)小的光譜室就解決了這個(gè)問(wèn)題。這種探頭重量不大，可以手持，使用仍然方便。
用氬氣流探頭 “Argon flushed probe”可進(jìn)行高分析，除其它元素外，還可以分析C，使用的光學(xué)方法可以分析低于0.1%含量的C，其分析了定碳儀的分析，這就大大縮短了試樣制備程序。
空氣探頭 “Air probe”是“混料分選”的常規(guī)應(yīng)用，分析時(shí)間小于3秒。在分析后顯示出近似的分析結(jié)果和材料牌號(hào)。
發(fā)現(xiàn)混料，發(fā)出聲/光報(bào)警信號(hào)，可由操作者確認(rèn)。
