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橢偏儀 日本OTSUKA牌 FE-5000
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橢偏儀 日本OTSUKA牌 FE-5000

產(chǎn)品價格:
電議
產(chǎn)品型號:
FE-5000
供應(yīng)商等級:
企業(yè)未認證
經(jīng)營模式:
工廠
企業(yè)名稱:
劉飛峰
所屬地區(qū):
發(fā)布時間:
2013/12/10 11:32:01

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劉飛峰先生(聯(lián)系我時,請說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

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劉飛峰

企業(yè)未認證營業(yè)執(zhí)照未上傳

經(jīng)營模式:工廠

主營產(chǎn)品:LED光學(xué)檢測儀器;LCD檢測設(shè)備;膜厚測量儀;光檢測積分半球;光檢測積分球;平面顯示器檢測設(shè)備;LED在線檢測設(shè)備;高性能光纖光譜儀

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 400波長以上的多頻分光法,量測出橢圓偏光光譜。

 自由變換反射量測角度,可得到更詳細的薄膜解析數(shù)據(jù)。

 反射角度自動可變的測量方式,對薄膜測量有更高的分析。

 搭載有薄膜解析所需的全角度同時測量功能。

 測量晶圓與金屬表面的光學(xué)常數(shù)(n:屈折率,k:衰減係數(shù))。

 


橢圓偏光儀 FE-5000反射式膜厚量測儀 FE-3000
膜厚光譜分析儀系統(tǒng) MCPD series
膜厚分析儀FE-300

橢圓偏光量測(tanΨ,cosΔ)光學(xué)常數(shù)分析(n:屈折率,k:衰減係數(shù))膜厚分析

樣品對應(yīng)尺寸:   100 × 100 mm測量方式:   旋轉(zhuǎn)檢光發(fā)入射/反射角度范圍:   45 ~ 90°入射/反射角度驅(qū)動方式:   反射角度自動可變式波長測量范圍:   300 ~ 800 nm分光元件:  Poly-chrometer尺寸:  650(H)×400(D)×560(W)mm重量:   約50kg

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劉飛峰

聯(lián)系人:
劉飛峰先生
手機:
13798387721
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類型:
工廠
地址:
中國 廣東 深圳市福田區(qū) 僑香三道國華大廈4D

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