主要特征和技術(shù)指標(biāo)
1）50MHz至20GHz
2）100dB的動(dòng)態(tài)范圍
3）頻率和功率掃描
4）可選時(shí)域、高功率測(cè)試裝置、四個(gè)采樣器和TRL校準(zhǔn)、直接采樣器訪問(wèn)、頻率偏置模式
5）信號(hào)源功率范圍：85dBm～+10dBm
6）跡線噪聲0.03dBrms(到13.5GHz）（3KHz帶寬）
1）50MHz至20GHz
2）100dB的動(dòng)態(tài)范圍
3）頻率和功率掃描
4）可選時(shí)域、高功率測(cè)試裝置、四個(gè)采樣器和TRL校準(zhǔn)、直接采樣器訪問(wèn)、頻率偏置模式
5）信號(hào)源功率范圍：85dBm～+10dBm
6）跡線噪聲0.03dBrms(到13.5GHz）（3KHz帶寬）
應(yīng)用
用于微波線性和非線性器件的研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試，也可以用于混頻器和高功率（20W）器件的測(cè)試（選件085）。
