Nanite原子力顯微鏡測量模式: 接觸式原子力顯微鏡，真正非接觸式原子力顯微鏡，橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM），導(dǎo)電原子力顯微鏡，磁力顯微鏡（MFM），開爾文探針（Kelvin Probe），掃描熱原子力顯微鏡（SThM），電容和靜電力顯微鏡（EFM），的納米光刻和納米操作能力，音叉原子力顯微鏡，三維掃描成像。
Nanite原子力顯微鏡關(guān)鍵特點(diǎn)：
l 大尺寸樣品臺(tái)，全自動(dòng)測量直徑為160mm樣品。
l PZT/voice coil雙模式技術(shù)AFM
l 多功能小樣品Cervantes FullMode SPM-TS原子力顯微鏡控制器DULCINEA
l 先進(jìn)的32-bit DSP控制器，反饋技術(shù)(掃描范圍>10um時(shí)掃描20 Hz,消除爬行現(xiàn)象)
l 掃描和分析軟件
l 可以進(jìn)行納米壓痕和劃痕實(shí)驗(yàn)
l 極輕針尖樣品逼近技術(shù)
l 極快速一鍵逼近(從針尖樣品離開任意遠(yuǎn)處),無需預(yù)逼近
l 光學(xué)系統(tǒng)
l 掃描器范圍:110um X & Y range,24um Z range
l XY閉環(huán)掃描技術(shù)
l 自動(dòng)運(yùn)動(dòng)臺(tái),馬達(dá)驅(qū)動(dòng), 原子力顯微鏡可以拼接測量
l 獨(dú)特開放性軟硬件構(gòu)架設(shè)計(jì), 并開放所有源代碼供您的二次開發(fā)
l 可以測量超大樣品(任意尺寸>200,300,500mm)
