- 產(chǎn)品品牌:
- ABB
- 產(chǎn)品型號:
- MR170
MR170系列光譜輻射計
配置
光譜輻射計系統(tǒng)有兩個輸入輸出端口。
系統(tǒng)具有從兩個輸出端口同時采集數(shù)據(jù)的特點(配置有一個MCT和一個InSb探測器)。
其中一個輸入端口用來安裝一個參考背景扣除光源。另外一個輸入端口被設(shè)計用于獲取一個入射望遠鏡和一個可視裝置。
MR170配置有液氮制冷探測器。
系統(tǒng)組成:
1. 帶有兩個探測器的全傅里葉變換干涉分光儀
2.內(nèi)置在FTIR模塊中的電子控制裝置
3. 外部電源供應(yīng)模塊
4. 用于數(shù)據(jù)采集及處理的輻射測量軟件
5. 輸入準直儀
6. FTIR內(nèi)置溫度控制系統(tǒng)
7. 帶有手柄及三腳架固定裝置的FTIR基座
8. 室溫背景扣除參考源
9. 鋁制運輸箱
數(shù)據(jù)采集及輻射測量軟件
連接到PC機上通信
屏蔽功能的CAT 5電纜用于100M以太網(wǎng)通信
記錄時間(連續(xù)模式)
長為30分鐘(相當(dāng)于5GB)
轉(zhuǎn)移到硬盤
實時保存數(shù)據(jù)到硬盤
數(shù)據(jù)時間標記
在嵌入式處理器ZPD板上
FTSW500輻射測量軟件(特點)
1. 儀器控制(設(shè)置,狀態(tài),命令等)
2. 兩種MCT和InSb探測器實時數(shù)據(jù)采集
3. 具有儀器診斷功能
4. 數(shù)據(jù)采集及后續(xù)處理
5. 內(nèi)置輻射校準功能(輻亮度,輻照度及相對強度)
6. 內(nèi)置Galactic GRAMS 32格式數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能
7. Java功能庫用于MATLAB和IDL數(shù)據(jù)后續(xù)處理
8. 兼容Windows XP
選項
望遠鏡
1.寬視場(視場為75mrad),焦距范圍:2m到無窮遠
2.中視場(視場為28mrad),焦距范圍:10m到無窮遠
3.窄視場(視場為4.9mrad),焦距范圍:30m到無窮遠
可視裝置
1. 目鏡
2. 帶有控制及監(jiān)視功能的CCD相機
其他
三腳架
計算機
系統(tǒng)參數(shù)
分光方式
傅里葉變換干涉分光
光譜范圍
667-5000cm-1(2-15μm),可選擇擴展至
10000 cm-1(1μm)
光譜分辨率
在整個波長范圍內(nèi)6種分辨率可選(1,2,4,8,16和
32 cm-1)
光譜穩(wěn)定性
優(yōu)于0.01 cm-1
掃描速度
固定速度5cm/s
掃描率
分辨率 Scan/Sec
1 cm-1 2
2 cm-1 5
4 cm-1 9
8 cm-1 16
16 cm-1 30
32 cm-1 50
干涉儀視場
45mrad(無輸入準直儀或望遠鏡)
光光通量
8.1×10-3cm2sr
探測器
InSb:1800-5000cm-1(2-5.5μm)
可選擇擴展至10000 cm-1(1μm)
MCT:667-2500cm-1(4-15μm)
可選擇PV MCT:740-2500 cm-1
探測器制冷
液氮制冷
噪聲等效光譜輻亮度
(在16cm-1分辨率,1s觀測時間,環(huán)境溫度和峰值響應(yīng)時的校準及測試)
MCT: NESR(RMS)<2.5x10-9W/(cm-2•sr-1•cm-1)
InSb:NESR(RMS)<2.5x10-10W/(cm-2•sr-1•cm-1)
InSb探測器動態(tài)范圍
1-64倍增益及16位模數(shù)轉(zhuǎn)換
MCT探測器動態(tài)范圍
1-256倍增益及16位模數(shù)轉(zhuǎn)換
增益控制
計算機控制(手動和自動兩種模式)
1,2,4,8,16,32,64倍數(shù)(MCT只有128,256)
視場選擇
手動控制
物理及電學(xué)特性
重量
傳感器頭:35kg
電源模塊:3.5kg
尺寸(L×W×H)
干涉儀:390mmx375mmx460mm
輸入準直儀:190mmx102mmx115mm
電源模塊:390mmx255mmx110mm
調(diào)制頻率
3.3 kHz 到25 kHz
溫度適用范圍
0℃到45℃使用,-30℃到55℃貯存
濕度
無冷凝器的情況下小于90%相對濕度
工作時的隨機振動
從5到40Hz,加速度功率譜密度為0.015g2/Hz。在500Hz時,按單一斜率下降至0.0015 g2/Hz。
沿著典型安裝方向,加速度振幅為1gRMS(其他兩個方向為0.63gRMS)
參考MIL-STD 810 F方法514.5
沖擊
在10ms內(nèi)光學(xué)頭6g
隨加速度振幅6g(半正弦)
沖擊周期10ms
沖擊15次(每個方向5次)
參考MIL-STD 810 方法516.5







