產品品牌：

牛津Oxford

產品型號：

CMI900

本公司供應牛津OxfordCMI900CMI900 X光鍍層測厚儀質量保證，歡迎咨詢洽談。

成色約8-9新見圖。

CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀  快速的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度  簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素  性能優(yōu)化，測量元素范圍廣： 可預設參數
CMI900 提供800多種預設應用參數/方法 杰出的長期穩(wěn)定性：     自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結果    簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅固耐用的設計   可以在實驗室或生產線上操作    堅固的工業(yè)設計     經行業(yè)驗證的技術，在銷售量超過3000臺  電子行業(yè) 電子元件 有效調整生產過程，從而提高生產力  確保元件可靠性   測量焊料合金成份和鍍層厚度  優(yōu)化質量控制，從而確保產品生命周期   分析導電性鍍層金和鈀的厚度  測量電腦硬盤上的NiP層厚度    五金電鍍行業(yè) 五金電鍍 電鍍處理的成本小化，產量化  快速簡單的分析   同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析  多可分析4層（不包括基層）  鍍液成份分析    金屬合金行業(yè) 珠寶及其他合金的快速無損分析  貴金屬合金分析  黃金純度分析  材料鑒定