JULIGHT公司的自混頻干涉型激光測振儀
Julight公司于2011年成立，其宗旨是將激光和光子學(xué)技術(shù)運用于從大學(xué)實驗室到每天的日常生活提供的可能性。是近距離微小測試的。
Julight公司的技術(shù)源于Università di Pavia和Politecnico di Milano技術(shù)源兩所大學(xué)的多年的應(yīng)用研究成果。
Julight公司通過綜合光電集成，小化和成本效率三因素，對光子技術(shù)和激光技術(shù)進行靈活的運用。
Julight公司利用新等級的非接觸式設(shè)備和儀器，對工業(yè)生產(chǎn)和產(chǎn)品質(zhì)量進行的控制和監(jiān)測（測量范圍在納米刀幾十毫米）。
Julight的R&D戰(zhàn)略也在瞄準(zhǔn)另外一個目標(biāo)，就是開發(fā)生命科學(xué)儀器，這種儀器能夠為新的診斷方法和治療開辟一條新路。.
產(chǎn)品介紹
在一些情況下，比如測試物體不能直接觸及，或者傳統(tǒng)的接觸式傳感器（加速度傳感器）不能派上用場時，非接觸式振動測量就顯得尤其。下列情況：
- 測試件本身很輕 （壓電傳感器，喇叭薄膜）
- 測試物件處于高溫
- 測試物件在旋轉(zhuǎn)
- 操作者為了節(jié)省時間，不想把時間浪費在加速度傳感器粘貼上。
Julight公司為不需接觸被測件表面的遠距離振動測量提供了兩個系列產(chǎn)品。
一．.激光測振儀
激光測振儀
1. 原理
Julight 公司的激光測振儀是基于新穎的自混頻干涉結(jié)構(gòu)而成的，可以對粗糙發(fā)散的表面（比如未拋光的金屬，塑料，橡皮，紙質(zhì)，纖維等）進行易而的非接觸振動測量。激光測振儀提供模擬的電信號輸出，這些電信號就是在某一頻率的目標(biāo)位移的復(fù)制品（ 1mv/um響應(yīng)率，對應(yīng) 1mm/V）。頻率范圍從DC到50KHZ ,小的可測位移為0.4nm (1HZ噪聲寬帶)，的振動幅值（峰峰值）可以大于20mm,的速率可以使1 m/s .
Julight公司的激光測振儀的顯著的特點就是具有小的光學(xué)頭：
-標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)頭，帶斑點追蹤功能（大小：105mm x 60mm x 40mm)，有定焦和自動對焦兩個版本。
-可選的小的光學(xué)頭，不帶斑點追蹤和自動對焦功能（大小：長50 mm,直徑 15mm）
處理干涉信號的簡單二的電子系統(tǒng)可以做得和，一臺 VSM400(或 VSM4000)儀器能夠支持4個光學(xué)頭（也就是說4個的光學(xué)通道），因此，這樣的話，就可以進行同時測量不同點的振動，而無需使用掃描系統(tǒng)來完成。
激光測振儀系列產(chǎn)品參數(shù)比較表
型號 指標(biāo) | VSM100 | VSM100+ | VSM400 | VSM1000 | VSM4000 | VSM100-US | VSM300-3D-US |
性能參數(shù) | 25.5 mm | 49.2 mm | 25.5 mm | 25.5 mm | 25.5 mm | 2 um | 2 um |
測量值 （峰-峰） | |||||||
速度 | ＞1 m/s | ＞ 0.3 m/s | ＞ 1 m/s | ＞ 1 m/s | ＞ 1 m/s | ＞ 60 m/s | |
輸出信號 | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） | 位移/速度 （BNC輸出） 跟蹤信號 光信號輸出 （模擬量） 斑點追蹤 （數(shù)字信號） |
輸出信號響應(yīng)率 | 位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） | 位移：0.5V/mm 速度：5V/（m/s） | 位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） | 位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） | 位移：1V/mm 速度：10V/（m/s） | 5V/um | 位移：1V/um 速度：0.01/（m/s） |
分辨率 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
限噪 |
噪聲對等位移 | 0.1nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) | 0.2nm/(0-500KHZ) | 0.2nm/(0-50KHZ) |
輸出信號 | 1% | 1% | 1% | 1% | 1% | 5% | 5% |
橫向截斷分別率 | 100 um | 100 um | 100 um | 100 um | 100 um | 100um | 100 um |
目標(biāo)物表面 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 | 漫射 后反射 |
工作距離 | 標(biāo)準(zhǔn)：40厘米 +/-2厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：80厘米 +/-10厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：40厘米 +/-2厘米 20-120厘米 （定制） | 標(biāo)準(zhǔn)：10厘米 -120厘米(自動對焦模式) 20，40,100厘米 （固定焦距模式） | 標(biāo)準(zhǔn)：10厘米 -120厘米(自動對焦模式) 20，40,100厘米 （固定焦距模式） | 標(biāo)準(zhǔn)：20厘米 +/-2厘米 | 標(biāo)準(zhǔn)：15厘米 |
物理參數(shù) | Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) Pout < 15 nm @1310nm(聚焦型) | Pout < 17 nm @785nm(瞄準(zhǔn)型) | Pout < 17 nm @785nm(聚焦型) |
激光發(fā)射 | |||||||
激光等級 | 3 B | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) |
3 B | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) | 3 B @650nm(可視) 1M@1310nm(不可視) | 3 B | 3 B |
激光頭尺寸 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 40 毫米*60毫米*105毫米 | 155 毫米*145毫米*80毫米 |
控制器尺寸 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 12.5毫米* 15.5毫米*29.6毫米 | 24.6毫米* 15.5毫米*29.6毫米 |
供電 | 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
| 110-120 VAC/60 HZ 220-240 VAC/50HZ
|
耗電 | < 5 W | < 5 W （20W） | < 5 W /通道 （20W） | < 5 W （20W） | < 5 W /通道 （20W） | < 5 W | < 15 W |
輸入/輸出（I/O） | RS 485 | RS 485 | RS 485 | RS 485 | RS 485 | RS 485 | RS 485 |
重量 | 4 kg | 4 kg | 6 kg | 4 kg | 6 kg | 4 kg | 4 kg |
操作溫度 | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C） | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ） | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C） | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C） | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C） | 光學(xué)頭 -20 °C to +80 °C 控制器 0°C to +50 °C ） | 光學(xué)頭 0 °C to +80 °C 控制器 0°C to +60 °C） |
特 點 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對的漫射表面均可以測量 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8. 2 級激光 9.對的漫射表面均可以測量 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對的漫射表面均可以測量 9.4個通道 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對的漫射表面均可以測量 9.2級激光 10.自動對焦 | 1.自混頻構(gòu)造 2.小巧的光學(xué)頭 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移/速度模擬輸出 7.頻率范圍：DC-50KHZ 8.對的漫射表面均可以測量 9.2級激光 10.自動對焦 11.4個通道 | 1.自混頻構(gòu)造 2.微小振動 （0.02Nm到1 um） 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.位移模擬輸出 7.頻率范圍：20KHZ-10MHZ 8.對的漫射表面均可以測量 9.NDT運用 | 1.自混頻構(gòu)造 2.微小振動 （0.02Nm到1 um） 3.全自動斑點跟蹤 4.光線對中簡單容易 5.本底噪聲小 6.3維振動測量 7.頻率范圍：20KHZ-10MHZ 8.對的漫射表面均可以測量 9.位移/速度模擬量輸出 |
2. 使用
光學(xué)頭須放在工作距離在0.2到1米間的振動表面的前端。測量的電信號從電子單元的BNC端口輸出。信號可以輸出給示波器/ 數(shù)采系統(tǒng)，或給FFT分析儀進行頻域分析。
LED-BAR指示儀實時測量反散射光信號長度，以便避免由于散斑圖樣影響而引起的信號衰落。
全自動斑點跟蹤允許可以允許對漫射表面的無隨員操作：系統(tǒng)可以全自動跟蹤目標(biāo)表面的亮點，消除信號衰落。
3. 運用
? 位移和振動的非接觸測量（在低的頻率處）
? 對小，軟和的結(jié)構(gòu)的無質(zhì)量負載的振動測量
? 材料和結(jié)構(gòu)分析
? 汽車，航天和能源工業(yè)（發(fā)動機和汽輪機監(jiān)測，性測量）
? 喇叭，壓電陶瓷和MEMS測量/特性定義
? 模態(tài)分析
? 工廠在線過程控制
? 機器的狀態(tài)監(jiān)測
? 質(zhì)量測試
二．三角激光距離傳感器
型 號 | 通 道 | 工 作 距 離 | 激 光 等 級 |
LT2004-20k | BW=20kHz | 20 cm | 2 |
LT1505-1000k | BW=1MHz | 15 cm | 3B |
LT1505-1000k-HR | BW=1MHz | 15 cm | 3B |
Julight公司為距離和振動測量設(shè)計和生產(chǎn)的激光傳感器，它們是基于和可信的激光三角定律。
Julight公司可以根據(jù)客戶的要求定制，提供信價比很高的產(chǎn)品。
Julight公司的三角激光傳感器有較寬的信號寬帶（100KHZ），并且體積小巧，靈敏度高。正因如此，推薦它用于測量旋轉(zhuǎn)件的振動，因為這種傳感器不會像LDV干涉法一樣受到斑點圖形的負面影響，而影響測量結(jié)果。
Julight公司的三角激光傳感器用于測量旋轉(zhuǎn)速度30000 rpm的小工具的振動和偏心測量。（Micro-EMD的0.3到3mm的電）。對于短距離傳感器，靈敏度可以10nm（1HZ帶寬）的等同噪聲的位移。
運用領(lǐng)域
I工業(yè)
汽 車 | 噪聲和振動分析 產(chǎn)品驗證測試 |
力學(xué) | 機械故障監(jiān)測 預(yù)測維修保養(yǎng) 結(jié)構(gòu)分析 監(jiān)測 運動控制 MEMS特性定義 |
航天 | 模態(tài)分析 葉尖定時分析 風(fēng)振動分析 |
能源 | 渦輪軸向振動分析及位移測量 |
研發(fā)
生命科學(xué) | 人體生理狀態(tài)監(jiān)測 |
力學(xué) | 結(jié)構(gòu)分析 MEMS原型定義 |
文化遺產(chǎn) | 工藝品保護 樂器診斷 |
