THICK-900A型X熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時(shí),其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自特征的X射線,不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號變?yōu)槟M信號,經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理,計(jì)算機(jī)的應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的各類及各元素的鍍層厚度。
分析元素范圍:S-U
無需復(fù)雜的樣品預(yù)處理過程,測試
檢出限可2PPM
分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005UM-60UM
采用美國原裝國際的探測器,能量分辨率高
采用美國原裝國際的AMP,處理速度快,高,穩(wěn)定
X光管采用正高壓激發(fā),激發(fā)與測試條件采用計(jì)算機(jī)軟件數(shù)碼控制與顯示
采用彩色攝像頭,準(zhǔn)確觀察拍攝樣品
采用電動無控制樣品平臺,可以進(jìn)行X-Y-Z的移動,準(zhǔn)確方便
采用雙激光對焦系統(tǒng),準(zhǔn)確定位測量位置
保護(hù)傳感器,保護(hù)探測器
度高,穩(wěn)定性好,故障率低‘
輻射系統(tǒng):隱蔽式設(shè)計(jì)、軟件、硬件三重射線護(hù)系統(tǒng)多層屏蔽保護(hù),輻射性
WINDOWS XP中文應(yīng)用軟件,的分析方法,強(qiáng)大的功能,扣件簡單,使用方便







