EDX8000 x熒光光譜儀
　　產(chǎn)品名稱(chēng)：x熒光光譜儀
　　產(chǎn)品型號(hào)：EDX8000
　　簡(jiǎn)單介紹：用于RoHS檢測(cè)和鍍層檢測(cè)
　　
　　EDX8000 x熒光光譜儀的詳細(xì)說(shuō)明
　　x熒光光譜儀EDX8000（XRF EDX8000）x熒光光譜儀EDX8000技術(shù)參數(shù)
　　分析：0.05％
　　分析范圍：1ppm-99.9％
　　測(cè)量元素：從硫至鈾等75種元素
　　測(cè)量對(duì)象：粉末、固體、液體分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度可分析10層以上的鍍層測(cè)試鍍層薄至0.005μm
　　步進(jìn)小距離：0.01mm
　　測(cè)量時(shí)間：60-300s
　　工作溫度：13-30℃
　　相對(duì)濕度：≤70％
　　重量：30kg 工作電壓：AC110V／220V
　　配置：?jiǎn)螛悠非挥?jì)算機(jī)、噴墨打印機(jī)，硅針半導(dǎo)體探測(cè)器，放大電路，高低壓電源X光管。
　　
　　x熒光光譜儀EDX8000特點(diǎn)：定位測(cè)量系統(tǒng)，用于RoHS檢測(cè)和鍍層檢測(cè)雙激光定位系統(tǒng)，50至100倍物體放大逐點(diǎn)測(cè)試被測(cè)對(duì)象，并給出完整的含量和鍍層的平面分析圖譜對(duì)各個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)結(jié)果進(jìn)行綜合分析，并將結(jié)果顯示出來(lái)。