ROHS檢測(cè)儀生產(chǎn)廠家，鍍層測(cè)厚儀，合金分析儀，無鉛測(cè)試，屬檢測(cè)
　　納優(yōu)NaU-E650
　　采用納優(yōu)技術(shù)的光路設(shè)計(jì)，顯著抻高分析和數(shù)據(jù)性，減小灰色地帶區(qū)間，節(jié)省外送檢測(cè)成本；
　　行業(yè)內(nèi)全配置的12組濾光片（行業(yè)內(nèi)一般配置≤8組），實(shí)現(xiàn)自動(dòng)選擇空間。
　　提供開放式工作曲線標(biāo)定技術(shù)平臺(tái)，可為用戶量身定做的有害物質(zhì)檢測(cè)和控制方案；
　　全自動(dòng)一鍵式操作－載物平臺(tái)、樣品室、準(zhǔn)直器、濾光片、照射光斑定位等自動(dòng)操作；
　　測(cè)試時(shí)間在100－400秒間自行設(shè)定（系統(tǒng)自動(dòng)默認(rèn)設(shè)定200秒）；
　　經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)結(jié)構(gòu)，結(jié)合軟硬件多重保護(hù)，輻射性能；
　　測(cè)量元素范圍：Na-U.
　　NaU-E650主要應(yīng)用技術(shù)指標(biāo)：
　?。ㄡ槍?duì)RoHS指令要求，按照電子信息產(chǎn)品污染控制技術(shù)中心《RoHS檢測(cè)用X熒光能譜儀性能評(píng)價(jià)規(guī)范RoHSQ09-005》的定義和測(cè)試方法，篩選測(cè)試各種中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）
　　NaU-E650進(jìn)行XRF篩選允收標(biāo)準(zhǔn)示例（推薦值，按照IEC62321Edition　1.0　2008-12標(biāo)準(zhǔn)帛定）
　　納優(yōu)E650型RoHS檢測(cè)儀參數(shù)：
　　產(chǎn)品名稱（product　name）：Nayur　X熒光無鹵分析儀（Nayur　halogen-free　XRF）
　　型號(hào)（te）：NaU-E650
　　測(cè)試對(duì)象（test　object）：粉未、固體、液體（powder，solid，liquid）
　　測(cè)量時(shí)間（test　time）：100-200s
　　環(huán)境溫度（environment　temperature）：15℃-30℃
　　環(huán)境濕度（environment　humidity）：30%-80%
　　管壓（tube　voltage）：10KV-50KV
　　管流（tube　flow）：50uA-1000uA
　　外形尺寸（instrument　dimension）：730mm×440mm×330mm
　　樣品腔面積（sample　cavity　dimension）：400mm×400mm×100mm
　　重量（weight）：30Kg
　　----------納優(yōu)E650型RoHS檢測(cè)儀配置：
　　高分辨率電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器（high-resolution　electric　refrigeration　semiconductor　detector）
　　鹵素測(cè)試配件（halogen　test　accessory）
　　光路優(yōu)化系統(tǒng)（optical　optimization　system）
　　內(nèi)置高清晰CCD攝像頭（high-resolution　CCD　camera）
　　自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片collimators　and　filters　automatic　switching　system
　　全自動(dòng)定位測(cè)試系統(tǒng)（automatic　positioning　test　system）
　　樣品倉(cāng)自動(dòng)開關(guān)裝置（fully　automatic　sample　cavity）
　　三重保護(hù)模式（triple　security　protected　mode）