X-Strata是結(jié)構(gòu)緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的的臺式X射線熒光分析設(shè)備,提供簡單、快速、的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領(lǐng)域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力,可進(jìn)行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供:
分析:無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)的技術(shù)和性,每年都帶來收益
操作簡單,要簡單的培訓(xùn)
分析三步驟
杰出的分析準(zhǔn)確性和性
在鍍層測厚領(lǐng)域擁有過20年的
使用大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進(jìn)行鍍層厚度測量,質(zhì)量的同時降。







