能量分散型熒光X射線元素分析儀　JSX-3400RII
　　JSX-3400RII是日本電子株式會(huì)社推出的08年新一代能量分散型熒光X射線元素分析儀。該設(shè)備具有出眾性能指針，不能很好對(duì)應(yīng)RoHS指令、ELV指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元素分析，還對(duì)鹵素Cl高測(cè)試分析。能同時(shí)無鹵測(cè)試及ROHS測(cè)試。
　　型錄
　　
　　
　　
　　主要特點(diǎn)
　　
　　1.實(shí)現(xiàn)高靈敏度*微少成分的分析*短時(shí)間測(cè)定！
　　I　采用新光學(xué)系統(tǒng)與高分辨率　Si（Li）型檢測(cè)器。檢測(cè)器分辨率在149eV以下。（業(yè)界
　　的分辯率）。
　　II　新開發(fā)的針對(duì)RoHS用X射線濾波器。減除了X射線管發(fā)出的干擾波峰以外，實(shí)現(xiàn)了波
　　峰背景的低減與避免共存元素影響。
　　2.內(nèi)置標(biāo)配塑料和金屬的檢量線。用戶不需要再做！
　　I　通過設(shè)備的校正功能，配置各種檢量線長(zhǎng)期使用。一般的保守也簡(jiǎn)單。
　　II　可針對(duì)Cl的檢量線，檢測(cè)限可達(dá)9個(gè)PPM，無鹵測(cè)試要求。
　　3.簡(jiǎn)單方便的操作系統(tǒng)
　　2　I　按一鍵就完成測(cè)定！自動(dòng)保存結(jié)果。一鍵生成
　　4.材料元素　Monitoring　系統(tǒng)。
　　I　實(shí)現(xiàn)樣品形狀/厚度/面積和材料性質(zhì)補(bǔ)正都自動(dòng)進(jìn)行。在業(yè)界多補(bǔ)正功能。滿足樣
　　品基材多樣性需求。
　　5.采用300mmφ大型樣品室，自動(dòng)樣品樣品倉(cāng)門。
　　3　I　大樣品可以直接放入樣品室。自動(dòng)樣品倉(cāng)門更好密封樣品室。
　　
　　
　　其他功能
　　
　　
　　1.分析結(jié)果軟體：測(cè)試自動(dòng)保存結(jié)果，并可一鍵生成。（標(biāo)配）
　　
　　
　　
　　
　　
　　
　　→
　　
　　
　　2.鍍錫分析軟體（可選）
　　I　無鉛焊錫和Sn焊料中的Pb分析困難，使用該軟體可以簡(jiǎn)單進(jìn)行非破壞分析，并
　　進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。
　　3.鍍鎳分析軟體（可選）
　　23　I　非破壞測(cè)量無電解Ni鍍層中的Pb，Cd進(jìn)行鍍層厚度修正分析準(zhǔn)確。成功地去除了背底
　　的影響。
　　I
　　
　　技術(shù)參數(shù)
　　
　　
　　元素范圍　Na11-U92
　　解析度149ev　以下（JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF）
　　X射缐管　5-50kV，1mA，50W
　　靶材　Rh靶
　　濾波機(jī)構(gòu)　4種自動(dòng)交換（包括Open）
　　準(zhǔn)直器　1mmΦ，3mmΦ，7mmΦ
　　探測(cè)器液氮制冷型Si（Li）半導(dǎo)體探測(cè)器
　　液氮　3升（消耗量1升/日以下）使用
　　樣品室尺寸　300　mmΦx　150mmH
　　樣品室環(huán)境大氣，真空（可選）
　　作業(yè)系統(tǒng)　Windows　XP，19寸彩色顯示器
　　主要附件能量校正樣品/強(qiáng)度校正樣品/檢查樣品
　　設(shè)備電源單相AC100V±10%，單相AC220V±10%