PTQ-8晶體管綜合快速篩選臺(tái)具有對(duì)半導(dǎo)體器件常溫測(cè)試，高溫?zé)釡y(cè)（不需要外加烘箱），熱敏參數(shù)的快速篩選取代直流滿功率老煉三大功能，并可任意選用及組合使用。晶體管熱敏參數(shù)的快速篩選技術(shù)，是采用在短時(shí)間內(nèi)（一般為數(shù)秒）對(duì)晶體管施加穩(wěn)態(tài)額定功率的辦法，使晶體管的結(jié)溫接近或允許結(jié)溫TjM，通過(guò)快速檢測(cè)晶體管熱敏參數(shù)VBE、ICEO（或ICBO）和hFE，及其在加功率前后的變化量、變化率△VBE、ICEOH和△hFE％，并以此為失效判據(jù)參量，淘汰標(biāo)的晶體管，剔除早期失效器件，產(chǎn)品批的質(zhì)量和性的目的，同時(shí)，所施加的穩(wěn)態(tài)額定功率模擬了被試管實(shí)際使用時(shí)可能出現(xiàn)的浪涌電壓、電流等應(yīng)力，以考核被試管承受沖擊的能力。該快速篩選方法不能替代直流滿功率老煉，快速剔除有潛在缺陷的器件，而且更加科學(xué)合理，并已列為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)SJ／T10415—93及國(guó)軍標(biāo)G128A—97.

　　PTQ—8晶體管綜合快速篩選臺(tái)已在原快速篩選儀器上作了大大改進(jìn)，不但能按規(guī)定進(jìn)行晶體管熱敏參數(shù)的快篩，而且可作常規(guī)直流參數(shù)測(cè)試儀器使用，具有的測(cè)試量程和，只要調(diào)用被測(cè)器件的型號(hào)，就能進(jìn)入快速連續(xù)檢測(cè)。當(dāng)被測(cè)器件由于穿通、二次擊穿和熱擊穿的，具有自動(dòng)保護(hù)能力。