相移電子散斑干涉（PI）技術是繼光彈性和全息干涉等光測力學方法之后發(fā)展起來的一種實驗力學新方法。它直接依靠激光干涉和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已經(jīng)得到了較廣泛的運用，可用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應力測量。
其他說明
| 主要技術參數(shù)指標: ◆ 光源:半導體泵浦固體激光器(綠光) , 輸出功率大于 20mw , 波長 532nm ◆ 相機: 1280 &tim; 1024 U2.0 數(shù)字攝像頭 ◆ 鏡頭: 25mm 定焦鏡頭(標配),可選配其它 C 接口鏡頭 ◆ 工作距離: 400 ~ 800mm ◆ 相移器: 5nm ◆ 演示試件: 圓盤受均布載荷,三點彎曲梁 ◆ 范圍:￠ 300mm ◆ 尺寸: 520cm &tim; 370cm &tim; 250cm ◆ 重量: 22kg |
