一、產(chǎn)品簡介
　　MXY8001光電技術(shù)應(yīng)用開發(fā)綜合實驗平臺是針對高校關(guān)于導(dǎo)軌式光學(xué)實驗的需求設(shè)計的一款實驗平臺。由光學(xué)導(dǎo)軌、數(shù)字儀表及電子元器件平臺、線/面陣CCD相機的原理與應(yīng)用及數(shù)據(jù)采集輸入輸出端口和線/面陣CCD相機數(shù)據(jù)采集軟件等部分構(gòu)成，平臺配備各種電源接口及0-200V　高壓可調(diào)電源和0-12V低壓可調(diào)電源，可為學(xué)生搭建各種實驗電路提供電源。學(xué)生能夠利用平臺自行搭建各種光學(xué)系統(tǒng)、光電傳感器的變換及處理電路，完成各種關(guān)于光電技術(shù)方面的應(yīng)用開發(fā)設(shè)計，從各方面學(xué)生的動手動腦能力及意識，幫助高校培養(yǎng)光電技術(shù)人才。
　　二、教學(xué)目的
　　1、了解并掌握各種光學(xué)配件及其實驗的原理和應(yīng)用；
　　2、了解并掌握各種光電傳感器的工作原理、變換電路、處理電路；
　　3、了解CPLD的應(yīng)用開發(fā)技術(shù)；
　　三、實驗內(nèi)容
　　在平臺配件的支持下能夠完成下述實驗內(nèi)容：
　　光電技術(shù)實驗：
　　1、光源發(fā)光光譜特性實驗；
　　2、光源發(fā)個角度特性實驗；
　　3、光度輻射度參數(shù)測量的實驗；
　　4、光敏電阻特性參數(shù)及其測量；
　　5、光敏電阻伏安特性實驗；
　　6、光敏電阻的變換電路；
　　7、光敏電阻時間響應(yīng)特性；
　　8、光電二管光照靈敏度的測量；
　　9、光電二管伏安特性的測量；
　　10、光電二管時間響應(yīng)特性的測量；
　　11、硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的基本特性；
　　12、測試硅光電池在不同偏置狀態(tài)下的典型特性參數(shù)；
　　13、測量硅光電池在反向偏置下的時間響應(yīng)；
　　14、PIN光電二管特性實驗；
　　15、光電三管光照靈敏度的測量；
　　16、光電三管伏安特性的測量；
　　17、光電三管時間響應(yīng)的測量；
　　18、光電三管光譜特性的測量；
　　19、光電耦合器電流傳輸比的測量；
　　20、光電耦合器件伏安特性的測量；
　　21、光電耦合器件時間相應(yīng)的測量；
　　22、光電開關(guān)的應(yīng)用實驗；
　　23、光電耦合器件的隔離特性的測量；
　　24、熱釋電器件基本原理實驗；
　　25、熱釋電器件光譜響應(yīng)的測試實驗；
　　26、PSD位移傳感器特性參數(shù)的測量；
　　27、光電管陽暗電流Id的測量；
　　28、光電管陽光照靈敏度Sa的測量；
　　29、光電管的靈敏度Sa與電源電壓Ubb的關(guān)系
　　30、光電管的電流增益G的測量；
　　31、二象限光電傳感特性實驗；
　　32、雪崩光電二管（APD）特性實驗；
　　33、測量LED正向電壓；
　　34、測量LED反向電壓；
　　35、測量LED的正、反向工作電流；
　　36、測量發(fā)光光源中心軸空間角；
　　37、測量發(fā)光光源的半發(fā)光強度的角度；
　　38、測量發(fā)光光源中心軸與機械軸的偏差角；
　　39、測量LED的發(fā)光光譜；
　　40、測量LD半導(dǎo)體激光器的發(fā)光光譜；
　　光電檢測技術(shù)實驗：
　　1、線陣CCD原理與驅(qū)動實驗；
　　2、線陣CCD測徑實驗；
　　3、線陣CCD角度測量實驗；
　　4、利用線陣CCD識別條碼；
　　5、利用線陣CCD測量物置和振動；
　　6、利用線陣CCD進(jìn)行物體掃描；
　　7、光柵與莫爾條紋；
　　8、利用夫瑯和費衍射進(jìn)行的測量；
　　9、面陣CCD原理與驅(qū)動實驗；
　　10、利用面陣CCD測量物體外形尺寸；
　　11、利用面陣CCD提取物體的邊緣與輪廓；
　　12、利用面陣CCD進(jìn)行圖像采集與參數(shù)設(shè)置；
　　13、利用面陣CCD進(jìn)行投影與差影圖像分析；
　　14、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的濾波與增強；
　　15、利用面陣CCD進(jìn)行形態(tài)學(xué)處理；
　　16、利用面陣CCD進(jìn)行物體的旋轉(zhuǎn)與縮放；
　　17、利用面陣CCD對顏色識別；
　　18、利用面陣CCD進(jìn)行圖像信息的點運算；
　　19、利用面陣CCD進(jìn)行圖像的幾何變換；
　　20、利用面陣CCD進(jìn)行數(shù)據(jù)采集實驗；