分析范圍:1PPM-99.99%
同時分析:幾十種元素同時分析
測鍍層厚度至0.01微米
測量對象:固體,粉未,液體
測量時間:60-300秒
測量:0.05%
分析元素:Na-U
工作溫度:15-26℃
相對濕度:≤70%
重量:80KG
功耗:200瓦
主要特點
1、儀器尺寸 630mm*440mm*380mm
2、測量樣品室 400mm*260mm*110mm
3、重量約 40Kg
4、適宜溫度 5-30℃
5、相對濕度≤80%
6、元素分析范圍鉀(K)到鈾(U)
7、含量分析范圍為 2 PPm 到 100000 ppm
8、測量時間 60-300秒(任意調(diào)整)
9、分辨率 149--186 eV FWHM@5.9 KeV
10、電源交流 220V&plun;5V 或 110V&plun;5V
11、電源頻率 47-63 Hz
12、高壓輸入+24V DC+-10%,4.0 A()
13、高壓輸出 0-50KV@1mA 功率 50W
儀器配置:
電制冷硅探測器:美國Amptek公司定制
高壓電源:美國Spellman
DP4:高集成度數(shù)據(jù)處理器美國Amptek公司定制
X光管:熒光分析儀
制冷系統(tǒng):在電子式制冷的基礎(chǔ)上又增加兩套水循環(huán)制冷系統(tǒng)
計算機:DELL-OPTIPLEX 210L商務(wù)
軟件:RoHS標準全套檢測軟件


