對(duì)于可能含有雜質(zhì)的天然礦物和以此為原料的產(chǎn)品不適用本法。
因此,對(duì)于將可能含有雜質(zhì)石棉的天然礦物粉碎,并將其作為原料進(jìn)行使用的情況,不能用本法分析石棉的含量。
石棉檢測(cè)
1.取樣
粉末狀:同一批次取3個(gè)試樣,每個(gè)試樣10g左右;
塊狀:粉碎,同一批次取3個(gè)樣品,每個(gè)試樣10g左右。
過篩,75μm.
2.方法
先采用含量在檢測(cè)限附近的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行裝置校正,以便準(zhǔn)確測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)試樣中角閃石和蛇紋石的衍射線,并選擇測(cè)定條件。然后在與標(biāo)準(zhǔn)試樣相同的測(cè)定條件下求得被檢試樣的相應(yīng)衍射線強(qiáng)度,將被檢試樣所顯示出的衍射線強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)試樣石棉的衍射線強(qiáng)度進(jìn)行比較,確認(rèn)被檢試樣的衍射線強(qiáng)度是否低于標(biāo)準(zhǔn)試樣石棉的衍射線強(qiáng)度。
I、X射線衍射裝置的測(cè)定條件
測(cè)定范圍(2θ):角閃石 10.0-11.0°
蛇紋石 11.0-13.0°或23.0-26.0°
管電壓和電流:在40kV、30mA或高于該電壓和電流的條件下測(cè)定。
對(duì)陰:Cu
單色化:石墨單色器或Ni過濾器
檢測(cè)器:閃爍計(jì)數(shù)管、比例計(jì)數(shù)管、蓋革計(jì)數(shù)管、半導(dǎo)測(cè)器等
微縫系:受光微縫0.3mm或0.2 mm
發(fā)散微縫 1°
散射微縫 1°
測(cè)角器掃描速度:每分鐘1/8°或在此速度以下
時(shí)間常數(shù):采用適合的時(shí)間常數(shù)。
記錄的刻度:測(cè)定衍射線的強(qiáng)度時(shí),要求取扣除背景后的凈峰值面積。要選用適合的刻度,以便在記錄中可將衍射線作為峰值進(jìn)行確認(rèn)。
ii、測(cè)定法
X射線衍射裝置要設(shè)定適合的測(cè)定條件。將角閃石標(biāo)準(zhǔn)試樣和蛇紋石標(biāo)準(zhǔn)試樣分別固定在試樣托板上,然后將其裝配在X射線衍射裝置的測(cè)角器上。對(duì)于含有角閃石的滑石標(biāo)準(zhǔn)試樣,要在折射角(2θ)為10.0-11.0°(折射峰值10.4°附近)的范圍內(nèi)測(cè)定并記錄衍射線強(qiáng)度(面積);對(duì)于含有蛇紋石的滑石標(biāo)準(zhǔn)試樣,要在折射角(2θ)為10.0-13.0°(折射峰值12.1°附近)或23.0-26.0°(折射峰值24.3°附近)的范圍內(nèi)測(cè)定并記錄衍射線強(qiáng)度(面積)。將上述標(biāo)準(zhǔn)試樣重新固定在試樣保持板上,反復(fù)測(cè)定3次。在確切實(shí)出現(xiàn)具有再現(xiàn)性的衍射線強(qiáng)度(面積)后,記錄各自的平均強(qiáng)度(面積)。
然后用同樣方法測(cè)定被檢試樣。重新固定試樣,反復(fù)測(cè)定3次。這時(shí),確認(rèn)角閃石是否10.4°的衍射線、蛇紋石是否12.1°或24.3°的衍射線標(biāo)準(zhǔn)。出現(xiàn)達(dá)標(biāo)的衍射線時(shí),取3次測(cè)定結(jié)果的平均值(面積),看其是否低于各自對(duì)應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)試樣的相應(yīng)衍射線強(qiáng)度(面積)。
iii、判定方法
根據(jù)上述ii項(xiàng)的測(cè)定結(jié)果,在未出現(xiàn)衍射線或衍射線強(qiáng)度值小于標(biāo)準(zhǔn)試樣的相應(yīng)衍射線強(qiáng)度(面積)時(shí),即可判定測(cè)定結(jié)果未過重量的0.1%。
?。?)石棉檢測(cè)分析時(shí)的注意事項(xiàng)
容易夾雜滑石的礦物有:綠泥石(青石棉)、方解石(石灰石)、苦灰?guī)r(白云石)、菱鎂礦、石英(石英石)等。判定含有石棉時(shí),先要進(jìn)行試樣滑石的定性分析,充分調(diào)查是否同時(shí)存在石棉以外的共存物質(zhì)的衍射線。角閃石10.4°的衍射線中不會(huì)同時(shí)存在上述礦物的衍射線,而蛇紋石12.1°或24.3°的衍射線附近,可能會(huì)出現(xiàn)綠泥石的衍射線(分別在12.5°或25.0°附近出現(xiàn)),需要充分注意重合出現(xiàn)這些衍射線的可能性。
通過X射線衍射分析,測(cè)定角閃石、蛇紋石,需要判定其是否就是石棉時(shí),應(yīng)進(jìn)一步采用偏光顯微鏡等來確認(rèn)其粒子形狀和化學(xué)構(gòu)成。


