杭州維勘科技公司聯(lián)合中國光學(xué)研究機構(gòu)浙江大學(xué)光電系，歷經(jīng)4年，研發(fā)成功了光纖跳線端面干涉儀。它依據(jù)國際電工委員會（IEC）標(biāo)準(zhǔn)，能夠準(zhǔn)確地檢測光纖端面的曲率半徑、光纖高度和頂點偏移等參數(shù)，為您在生產(chǎn)跳線的過程中提供研磨參數(shù)的調(diào)整，更能為您完成產(chǎn)品終檢，使之合國際廠商的采購需求，為您帶來豐厚利潤。
　　產(chǎn)品特點有：
　　1.產(chǎn)品測量由中國計量標(biāo)準(zhǔn)（中國計量科學(xué)研究院）檢測，測試結(jié)果。
　　2.產(chǎn)品復(fù)現(xiàn)性和重復(fù)性，測試結(jié)果的真實。
　　3.產(chǎn)品干擾性能良好，無需隔振措施。
　　4.快速便捷的售后服務(wù)，24小時答復(fù)，五個工作日內(nèi)解決問題，維修期間更有備用機服務(wù)，讓您生產(chǎn)不間斷。
　　以下為本公司產(chǎn)品與國內(nèi)外兩家公司產(chǎn)品的同環(huán)境下測量同一插芯的結(jié)果比對?？梢姳竟井a(chǎn)品與國外某公司產(chǎn)品的測量值上吻合度高，國內(nèi)某公司產(chǎn)品由于算法和結(jié)構(gòu)上的問題，測量值與真值偏差較大，容易造成錯報和漏報。而重復(fù)性和穩(wěn)定性方面，本公司產(chǎn)品在三種產(chǎn)品中的各項指標(biāo)均是的。
　　曲率半徑（μm）  頂點偏移（μm）  光纖高度（nm）
　　國外  維勘  國內(nèi)  國外  維勘  國內(nèi)  國外  維勘  國內(nèi)
　　平均值  14.7  14.1  12.49  37.4  37.15  32  -38.3  -37.9  -54
　　重復(fù)性  0.06  0.05  0.32  0.22  0.1  1.18  1.4  0.5  5
　　復(fù)現(xiàn)性  0.11  0.1  0.67  7.06  1.4  4.85  2.1  1  10