Hl霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)
　　NAMETRICS HL5500PC
　　1.可測(cè)試半導(dǎo)體材料及外延層材料電阻系數(shù)，載流子濃度及遷移率
　　2.應(yīng)用材料：Si、III-V、II-VI和寬禁帶半導(dǎo)體材料CIGS銅銦鎵錫薄膜
　　3.無(wú)需對(duì)Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三種形式測(cè)試
　　4.使用磁場(chǎng)：磁場(chǎng)強(qiáng)度0.32T&plun;1%，十年內(nèi)漂移率小于 0.1%，中心25mm內(nèi)磁場(chǎng)均勻度小于&plun;1%，磁場(chǎng)強(qiáng)度選擇 0.1/0.2/0.4/0.5T
　　5.可測(cè)試100GΩ之樣品
　　6.可選配90〜500K、室溫-600℃，LHe液氦溫區(qū)4K或10K之變溫測(cè)試平臺(tái)
　　
　　我司另有其他型號(hào)規(guī)格的設(shè)備：
　　LED外延磊晶系列：HL霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)、PL Mapping 光熒光光譜儀、全自動(dòng)電化學(xué)C-V測(cè)試系統(tǒng)、X射線繞射儀、快速EL測(cè)試系統(tǒng)、非接觸式面電阻測(cè)試儀、LED襯底材料厚度/平坦度測(cè)試儀等。
　　LED芯片制程系列：LED芯片測(cè)試機(jī)、半自動(dòng)LED芯片探針臺(tái)、手動(dòng)LED芯片探針臺(tái)、LED芯片/成品老化測(cè)試系統(tǒng)、LED靜電能力測(cè)試儀、ITO表面電阻測(cè)試儀、ITO膜厚/反射/折射/率測(cè)量系統(tǒng)等。
　　LED封裝測(cè)試系列：D/TOP LED材料測(cè)試分選機(jī)、大功率LED材料測(cè)試系統(tǒng)、手動(dòng)LED芯片來(lái)料抽檢系統(tǒng)、LED視角機(jī)、LED分光光譜儀、LED波長(zhǎng)檢測(cè)儀、離子風(fēng)扇系列等。