的用于拉伸，壓縮，彎曲和各種材料的疲勞試驗(yàn)?zāi)芰?。為掃描電子顯微鏡（SEM），原子力顯微鏡（AFM）的和光顯微鏡的使用而設(shè)計(jì)的機(jī)器，可動(dòng)態(tài)或靜態(tài)加載的條件下觀察變形及松弛狀況，計(jì)算機(jī)控制，可選加熱及冷卻裝置。
　　
　　MTI提供了一個(gè)的，緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，專門設(shè)計(jì)，以適應(yīng)掃描電子顯微鏡的拉伸，壓縮，彎曲和疲勞試驗(yàn)的能力，為研究人員和材料科學(xué)家的理想工具。在測(cè)試過程中利用率的電子顯微鏡可以觀察到裂紋擴(kuò)展，晶粒錯(cuò)位及其他的機(jī)械壓力影響。我們可以觀察材料失效的早期階段，讓我們更好的了解實(shí)驗(yàn)的過程。
　　
　　直觀的強(qiáng)大的操作軟件：
　　為了控制實(shí)驗(yàn)和收集數(shù)據(jù)，使用ADMET測(cè)試系統(tǒng)，這種強(qiáng)大的軟件包提供了一個(gè)友好的用戶界面來設(shè)置系統(tǒng)參數(shù)測(cè)試和分析數(shù)據(jù)。隨著應(yīng)變率和閾值（負(fù)荷，斷裂伸長(zhǎng)率，時(shí)間）定義試樣尺寸，然后再來執(zhí)行自動(dòng)測(cè)試和計(jì)算。提供了實(shí)時(shí)和應(yīng)力應(yīng)變曲線測(cè)試結(jié)果。關(guān)鍵參數(shù)，如峰值負(fù)載/壓力，偏移量，彈性模量等。原始測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可以導(dǎo)出為標(biāo)準(zhǔn)格式，因此很容易融入其他數(shù)據(jù)分析和實(shí)驗(yàn)管理系統(tǒng)。
　　
　　靈活的設(shè)計(jì)：
　　MTI提供了多種手動(dòng)，半自動(dòng)和全自動(dòng)的平臺(tái)，以適應(yīng)各種預(yù)算。100磅（450N），1000磅（4500N），和2000磅（9000N）的可選的載荷傳感器了準(zhǔn)確度和靈敏度，以滿足客戶的要求。允許更長(zhǎng)，更柔性的樣品進(jìn)行測(cè)試。水平和傾斜夾具了操作的靈。提供快速安裝適配器可無縫集成到大多數(shù)主要的顯微鏡工具。
　　
　　定制端口保護(hù)蓋允許用戶安裝不修改顯微鏡平臺(tái)。
　　
　　MTI提供各種各樣標(biāo)準(zhǔn)的及客戶選購的附件：
　　可互換的載荷傳感器
　　標(biāo)本加熱器和冷卻器
　　壓縮裝置
　　3和4點(diǎn)彎曲夾具
　　真空端口保護(hù)蓋
　　負(fù)荷和應(yīng)變讀出系統(tǒng)
　　圓形，螺紋和螺柱型試樣夾具
　　水冷卻系統(tǒng)
　　變速箱
　　快速鏈接固定裝置