VI系列功能測(cè)試儀，是專門為電子產(chǎn)品的動(dòng)態(tài)功能自動(dòng)測(cè)試而設(shè)計(jì)。取用高分辨率ADC（1it）快速取樣，結(jié)合多功能處理器和液晶顯示器，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的交直流電壓，電流，電阻，電容的性能自動(dòng)測(cè)試。功能使用方便，只要把測(cè)試項(xiàng)目的輸入路徑和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)輸入便可自動(dòng)完成測(cè)試。
　　
　　VI　21性能特點(diǎn)
　　1、測(cè)試電壓范圍：DC-50V~＋50V
　　2、測(cè)試：0.1mV
　　3、測(cè)試通道：16CH，共?；虿罘?
　　4、測(cè)試步驟：20步內(nèi)可定義
　　5、8位TTL邏輯控制輸出（控制繼電器）
　　6、測(cè)試時(shí)間可設(shè)置。
　　7、聲音提示測(cè)試狀態(tài)和結(jié)果。
　　8、測(cè)試電壓自動(dòng)換檔。
　　9、帶光背景16X4　LCD顯示。
　　10、自動(dòng)/手動(dòng)測(cè)試可選。
　　11、測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)/路徑/等測(cè)試參數(shù)，可由面板設(shè)定。
　　12、配備外接輸入端子，方便連接。
　　13、可配置為交直流電壓，電流測(cè)試；電阻和電容值測(cè)試。
　　14、EEPROM斷電數(shù)據(jù)保持。
　　
　　常用領(lǐng)域：
　　1、電子產(chǎn)品的輸入輸出電流電壓測(cè)試
　　2、電容電阻值測(cè)試
　　3、自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。