1、點(diǎn)擊測(cè)試：根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)的檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度。

　　2、劃線線性測(cè)試：支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差。可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，更的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性。

　　3、靈敏度測(cè)試：可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度。

　　4、分離度測(cè)試：實(shí)現(xiàn)兩觸筆作分離及靠攏動(dòng)作，兩觸筆在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可實(shí)現(xiàn)平行分離靠攏、垂直分離靠攏、45度角分離靠攏動(dòng)作，通過(guò)觸筆的移動(dòng)檢測(cè)出產(chǎn)品的兩點(diǎn)小操作距離。

　　5、坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多個(gè)點(diǎn)按特定的時(shí)間做點(diǎn)擊動(dòng)作，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值。

　　6、劃線性測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過(guò)程中是否有斷線現(xiàn)象。

　　7、信噪比測(cè)試：通過(guò)對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比。

　　8、報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率。

　　9、響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊，通過(guò)控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試。

　　10、功耗測(cè)試：通過(guò)高毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗。