一、普通參比電和測試方法已不能適應(yīng)大罐、管道陰保護(hù)的需要
　　陰保護(hù)是為鋼管道腐蝕而廣泛采用的技術(shù)，化電位的測量是實施這種技術(shù)重要的控制參數(shù)。采用普通參比電和常規(guī)方法測定地埋管道的化電位時會因不可避免的IR降而引起誤差。為此需采用斷電測量法才能消除，但在工程上斷電測量常會因很多不便而實施，例如：外加電流陰保護(hù)時，你不能為逐樁測量而多次頻繁的“斷電”，而陽法因無法斷開陽與管道的連線則根本無法斷電測量。并且斷電測量的重要前提是無雜散電流干擾，當(dāng)有雜散電流干擾或由腐層缺陷差異導(dǎo)致產(chǎn)生局部宏電池時，即使采用斷電法也測出真實的管道化電位。更為嚴(yán)重的是近年來隨著腐層技術(shù)的進(jìn)步，三層PE、熔結(jié)環(huán)氧粉末等新材料新工藝已被廣泛應(yīng)用，使得管道腐層缺陷大為減少，漏點(diǎn)（亦俗稱“露鐵”）！而現(xiàn)有的測試方法不管是地表參比法還是近參比法或是斷電法，都是基于管道腐層有“露鐵”才能測出管道化電位的。試想，面對一條被塑料包裹得嚴(yán)嚴(yán)實實的管道你還能用普通參比電、常規(guī)測試方法測出管道的化電位嗎？某采用環(huán)氧粉末腐層的輸氣管線，其埋有參比的測試樁上電位竟常年-1.85～-2.0V，而且距保護(hù)站越近電位越高，達(dá)-3.0V以上，過環(huán)氧粉末陰剝離的允許電位。但實際上并未有任何腐層損壞，顯然這些數(shù)據(jù)是“虛高”是疊加了大量的IR降成份。盡管用增加通電模擬試片的方法可在程度上解決斷電測量問題。但因缺乏相應(yīng)的技術(shù)規(guī)范及施工隊伍水平的參差不齊造成的施工質(zhì)量差異和由管道地質(zhì)沉降引起的試片與參比間位置的變化、前述雜散電流的影響（參比電與模擬試片間距大于10㎝即有可能疊加雜散電流引起的IR降），都使這種方法的效果大打，從而影響數(shù)據(jù)的真實、準(zhǔn)確。
　　
　　二、YXR1型化探頭的主要參數(shù)和分析
　　1、當(dāng)化探頭的紅線和管道斷開（即鋼盤斷電）時，內(nèi)參比與便攜式參比的電位差為0，這表明兩支參比都工作正常且有很好的一致性。以后由此引出的測試數(shù)據(jù)都將是的，有可比性。
　　2、便攜式參比帶電測量的結(jié)果顯然是疊加了很大的IR降而不正確。
　　3、用化探頭測得的結(jié)果無論管道是否斷電，數(shù)據(jù)幾無變化。這充分顯示了YXR1化探頭有很強(qiáng)的雜散干擾和消除IR降的能力，其測量結(jié)果是真實的。這個結(jié)果也了這條管線的陰保護(hù)沒達(dá)標(biāo)，沒-0.85V，這可能是管道有腐蝕的主要原因。
　　4、用便攜式參比斷電測量為-0.94V，表明斷電電位中仍含有約0.2（0.18）V的IR降成分。這與測量的結(jié)果基本吻合，即測量的數(shù)據(jù)就是便攜式參比電斷電電位中疊加的IR降。至于引起斷電電位IR降的原因尚需進(jìn)一步研究。這個實例再次生動說明在某些情況下，使用普通參比電即使斷電測量仍可能得不出正確結(jié)果。貌似達(dá)標(biāo)，實則假象。若采信這些數(shù)據(jù)將對陰保護(hù)的正常運(yùn)行造成誤導(dǎo)。
　　
　　三、結(jié)論——化探頭將用于大罐、管道陰保護(hù)
　　為適應(yīng)快速發(fā)展的管道覆蓋層技術(shù)進(jìn)步，解決漏點(diǎn)問題，同時為抑制雜散電流干擾，限度的消除IR降，我們認(rèn)為用化探頭將成為大罐、管道陰保護(hù)電位測量的然趨勢。