冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種能施加溫度應(yīng)力且能實(shí)現(xiàn)在期望溫度值間快速變化的試驗(yàn)箱,由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)、傳感器系統(tǒng)等組成。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱俗稱:三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,三箱式溫度沖擊試驗(yàn)機(jī),冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱具有較大的溫度控制范圍,能提供:高低溫快速變化(5min)試驗(yàn),或多次溫度變化試驗(yàn)(循環(huán)),低溫試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱分為高溫儲存區(qū)、低溫儲存區(qū)、試驗(yàn)區(qū)三部分,利用低溫儲存區(qū)、高溫儲存區(qū)蓄冷、蓄熱,試驗(yàn)區(qū)用于放置待測產(chǎn)品接受試驗(yàn)。
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天等多種行業(yè)的溫濕變化產(chǎn)品性檢測。
制造引用標(biāo)準(zhǔn):
GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分試驗(yàn)N:溫度變化》
IEC 60068-2-14:1984《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第2部分試驗(yàn)N:溫度變化》(修正件1:1986)
GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)A低溫(idt IEC 60068-2-1:1990)
GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B高溫(idt IEC 60068-2-2:1974)
GB/T2423.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(idt IEC 60068-2-33:1971)
IEC600682-33:1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
1.蓄溫溫度控制范圍:-70℃〜+130℃(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
2.沖擊試驗(yàn)溫度控制范圍:-55℃〜+120℃(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
3.溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5分鐘
4.測試箱尺寸:50L~150L(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
5.溫度波動度:&plun;1.0℃
6.溫度均勻性:&plun;2℃
7.整機(jī)重量:(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
8.箱體外形尺寸:(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
9.測試箱材質(zhì):SUS304不銹鋼
10.外箱體材質(zhì):SUS304不銹鋼/A3鋼板靜電噴涂
11.使用電源:AC380V&plun;5%/50Hz/+N+G
12.整機(jī)功率:(具體規(guī)格參考參數(shù)表)
13.氣源:3.0~4.0Kgf/M3(0.5~0.7Mpa)
14.位置:放置箱體時(shí)注意與墻面距離應(yīng)大于600mm.
15.使用環(huán)境要求:
1)溫度:15℃~35℃
2)相對濕度:不大于85%RH
3)大氣壓:86Kpa~106Kpa
4)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射
5)氣流:無強(qiáng)烈氣流,需要時(shí)不可直接吹到箱體上
6)電磁場:無強(qiáng)烈電磁場
7)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
冷熱沖擊試驗(yàn)箱控制系統(tǒng):
1)溫度測量范圍:-90.00℃~200.00℃(分辨率:0.01℃,誤差&plun;0.2℃);
2)7.2寸TFT彩色觸摸屏;(定值/編程)兩種控制方式;中(英)文菜單提示;
3)PT100傳感器;PID控制輸出;(4-20mA)模擬輸出;
4)8路開關(guān)信號輔助輸出;(基本配置10點(diǎn),可選配置20點(diǎn))
5)ON/OFF繼電器輸出;通訊接口(RS232C/RS485,通訊長距離1.2km[光纖可達(dá)30km]
6)程式編輯(可編120個(gè)程式,每個(gè)程式為99段)。
7)外型尺寸:184×144×113(mm)
8)附屬功能:報(bào)警顯示功能,停電保護(hù)功能,上限溫度報(bào)警功能,定時(shí)功能(自動啟動及自動停止),自診斷功能,曲線記錄顯示功能。





