高低溫沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的性，分為兩箱式動態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊，BG/3TS系列既可作冷熱沖擊試驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。廣泛使用于航空航天、單位、電工電子、儀器儀表、材料設備、部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應性試驗及對電子元器件的性測試提供性試驗、產品篩選等，同時可通過此試驗，進行產品的質量控制。
　　
　　特點
　　測試樣品一直處于靜止狀態(tài)，減少對樣品的機械沖擊，其溫度轉換通過氣動系統(tǒng)打開（關閉）不同風門來實現(xiàn)，有測試孔，可帶
　　電，帶信號，帶氣源測試，
　　新一代外觀設計，箱體結構、制冷系統(tǒng)、控制技術均做較大改進，技術指標更加穩(wěn)定，運行更，維護更方便，備有萬
　　向滾輪，方便在實驗內移動。
　　觸摸屏操作，外觀更加簡潔大方，操作更加容易，設定值實際值實時顯示。
　　真空雙層玻璃：大視窗設計，飛利浦高亮度照明，加熱無霧氣
　　為編程和文檔處理提供更多的接口選項，記錄量大：SD卡儲存，U輸出，電腦連接打印，大倉有紙無紙記錄等選配
　　性高：主要配件選配廠商，整機性
　　溫度速率可控，在業(yè)界處于水平，可實現(xiàn)5℃/min~30℃/min線性可調
　　
　　執(zhí)行滿足標準及試驗方法
　　GB11158-2008高溫試驗箱技術條件
　　GB10589-2008低溫試驗箱技術條件
　　GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）
　　GB/T2423.1-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A：低溫（IEC60068-2-1：2007）
　　GB/T2423.2-2008電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫（IEC60068-2-1：2007）
　　GB/T2423.22-2002電工電子產品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化（IEC60068-2-14）
　　G150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
　　G150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗
　　G150.5-1986溫度沖擊試驗
　　
　　其他
　　使用環(huán)境溫度：＋5~＋35℃（降溫環(huán)境溫度＋5~＋28℃）
　　：短路保護、溫保護、壓縮機壓保護、壓縮機過載保護、風機過載保護、漏電保護、相序缺相保護、操作人員保
　　護、試件保護
　　
　　附件標準配置
　　照明燈：飛利浦1
　　腳輪：4
　　通訊：SD卡/U/CF/以太網(wǎng)，按儀表選配