■于半導(dǎo)體靜電能力（靜電敏感度D）測(cè)試：
  §可測(cè)試各類型的發(fā)光二管（LED），選配不同的測(cè)試板可測(cè)試常見(jiàn)的直插式、各種貼片式的LED，以及裸晶，食人魚等等。
  §可測(cè)試各類電路集成塊（IC），選配各種封裝的測(cè)試板，能滿足測(cè)試各類IC，如MCU的IO與Vcc、GND，以及各引腳之間的D敏感度；
  §可測(cè)試各類CMOS，穩(wěn)壓管，三管等等半導(dǎo)體元器件的D能力；

■臺(tái)灣原裝，合國(guó)際相關(guān)的D放電測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：
  §ANSI/D STM-5.1 國(guó)際靜電協(xié)會(huì)
  §MIL-STD-883 F   美國(guó)軍方標(biāo)準(zhǔn)
  §JD22-A114D 國(guó)際固態(tài)協(xié)會(huì)標(biāo)準(zhǔn)
  §人體模式HBM：100Pf —1500Ω
  §機(jī)械模式MM:：200Pf—0Ω

■寬量程，全自動(dòng)升壓：
  §人體模式HBM：0——10000V
  §機(jī)械模式MM：0——1000V
  §全自動(dòng)跳升電壓，至被測(cè)器件靜電擊損出現(xiàn)回路漏電便自動(dòng)停止，顯示擊穿電壓；可預(yù)設(shè)4檔跳升步伐電壓，以及始測(cè)電壓。
  §實(shí)時(shí)電壓顯示，回路擊穿漏電自動(dòng)探測(cè)，自動(dòng)報(bào)警；

■操作簡(jiǎn)單，
  §一鍵式完成測(cè)試功能，無(wú)需繁雜設(shè)置；
  §操作，任何誤操作會(huì)對(duì)操作者有傷害