X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9000系列里的機型「SFT9400系列」搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器(半導(dǎo)測器+比例計數(shù)管),能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的鍍層厚度測量儀。
此外,SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎(chǔ)上,新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。
窗體
產(chǎn)品特點:
★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器(半導(dǎo)測器+比例計數(shù)管)
可對應(yīng)組合復(fù)雜的應(yīng)用程序,是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。
能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量
對于含Br的電路板,可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高的測量
可測量0.01μm以下的的Au鍍層厚度
★搭載塊體FP發(fā)軟件和薄膜FP法軟件
對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等,適用于廣泛的運用領(lǐng)域
★適用微小面積的測量
標(biāo)準(zhǔn)配備的15μmΦ的準(zhǔn)直器,可對微小面積進行測量。
★搭載了可3段切換的變焦距光學(xué)系統(tǒng)
★擁有沖撞功能
★搭載高樣品平臺,更可測量大型線路板(SFT9455)
★搭載激光對焦系統(tǒng)
★搭載測試自動生成軟件




