一、I的通用功能:
1.I能夠在短短的數(shù)秒鐘內(nèi),全檢出組裝電路板上件:電阻、電容、電感、電晶體、FET、LED,普通二體、穩(wěn)壓二體、光藕器、IC等件,是否在我們設(shè)計的規(guī)格內(nèi)運作。
2.I能夠先期找出制程不良所在,如線路短路、斷路、組件漏件、反向、錯件、空焊等不良問題,回饋到制程的。
3.I能夠?qū)⑸鲜龉收匣虿涣假Y訊以印表機(jī)印出測試結(jié)果,包括故障位置、件標(biāo)準(zhǔn)值、測試值,以供維修人員參考??梢越档腿藛T對產(chǎn)品技術(shù)依賴度,不需對產(chǎn)品線路了解,照樣有維修能力。
4.能夠?qū)y試不良資訊統(tǒng)計,生產(chǎn)管理人員加以分析,可以找出各種不良的產(chǎn)生原因,包括人為的因素在內(nèi),使之各個解決、完善、指正,借以電路板制造及品質(zhì)能力。
正是由于I以上功能所帶給客戶的大效益,才有今天I得已廣泛運用的現(xiàn)實!
二、I功能:
1.電解電容性測試技術(shù):
電解電容反向、漏件100%可測
并聯(lián)電解電容反向、漏件100%可測
電解電容性測試技術(shù)的工作原理:
1.1I就是利用第三根針施加一激發(fā)訊號(Trigger Signal)于電解電容,并量測第三點與正或負(fù)端間的反應(yīng)訊號(如圖三)
1.2I利用DSP(數(shù)字訊號處理)技術(shù)加以運算后,轉(zhuǎn)換成一組向量(Veors)透過DFT(Discrete Fourier Transform,離散式傅立葉變換)及FFT(Fast Fourier Transform,快速傅立葉變換)等運算方式,將量得的反應(yīng)訊號由 t(time)domain(示波器訊號)轉(zhuǎn)換成 f(frequency)domain(頻譜分析儀訊號)的向量組。
1.3經(jīng)由Learning取得一組標(biāo)準(zhǔn)向量值,而后待測物(DUT---Device Under Test)所量測的值(如圖五)再經(jīng)Pattern Match(特征辨識比對技術(shù))與原標(biāo)準(zhǔn)值比對,以決定待測物性正確與否。
Pattern Match的應(yīng)用如:指紋辨識、辨識、視網(wǎng)膜辨識等均是。


