電子塞規(guī)
用于各種孔的精密測量。配套電子柱或小型微機(jī)電箱（多套測量頭配置一臺(tái)電箱）。
主要技術(shù)性能：
1.被測孔徑范圍：φ5～φ120
2.被測孔徑差值：&plun;0.15
3.示值變動(dòng)性（σ為被測公差帶）：≤σ／10
4.測量力：0.6～0.9N
電子卡規(guī)：
用于各種外徑（外尺寸）的精密測量。配套電子柱或小型微機(jī)電箱（多套測量配置一臺(tái)電箱）。
主要技術(shù)性能：
1.被測軸徑范圍：φ10～φ120
2.與被測件接觸的材料：硬質(zhì)合金
3.示值變動(dòng)性（σ為被測公差帶）：≤σ／10
4.測量力：1.0～1.2N
用于各種孔的精密測量。配套電子柱或小型微機(jī)電箱（多套測量頭配置一臺(tái)電箱）。
主要技術(shù)性能：
1.被測孔徑范圍：φ5～φ120
2.被測孔徑差值：&plun;0.15
3.示值變動(dòng)性（σ為被測公差帶）：≤σ／10
4.測量力：0.6～0.9N
電子卡規(guī)：
用于各種外徑（外尺寸）的精密測量。配套電子柱或小型微機(jī)電箱（多套測量配置一臺(tái)電箱）。
主要技術(shù)性能：
1.被測軸徑范圍：φ10～φ120
2.與被測件接觸的材料：硬質(zhì)合金
3.示值變動(dòng)性（σ為被測公差帶）：≤σ／10
4.測量力：1.0～1.2N
