Nanofirst 3600是一款比一體式原子力顯微鏡（AFM），具有性能穩(wěn)定，操作簡(jiǎn)便和實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，可實(shí)現(xiàn)高分辨納米、亞納米測(cè)試。適合于高校納米科技教學(xué)、科學(xué)研究、納米材料及粉體分析、電化學(xué)測(cè)量、生物制藥和工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。作為AFM制造商，海茲思具有十多年的AFM技術(shù)經(jīng)驗(yàn)和積累，能夠提供及時(shí)的技術(shù)支持和售后服務(wù)。
　　
　　特點(diǎn)及用途：
　　>為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計(jì)，用于各類(lèi)納米材料測(cè)量表征；一體化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，配有的震系統(tǒng)；
　　>集成接觸模式和動(dòng)態(tài)力模式原子力顯微鏡、摩擦力顯微鏡功能；
　　>多通道圖像同步采集顯示，實(shí)時(shí)觀測(cè)形貌圖、摩擦力圖、振幅圖等；
　　>定點(diǎn)實(shí)時(shí)測(cè)試F-Z曲線、f-RMS曲線、RMS-Z曲線等多種曲線功能；
　　>設(shè)置“掃描頻率上限”功能，可限制快掃描頻率，保護(hù)探針
　　>圖像獲取文件連續(xù)存盤(pán)和自定義文件名，當(dāng)前工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能；
　　>配備二維微米移動(dòng)平臺(tái)，快速搜索樣品區(qū)域；
　　>高探針-樣品定位系統(tǒng)，直接定位到CCD（選配）任意可視的區(qū)域進(jìn)行掃描；
　　>可增配模式：磁力、相位和靜電力。