電子顯微鏡樣品制備過程中，在樣品進(jìn)行離子減薄之前，須將其拋磨至40μm以下的厚度，然后才能進(jìn)行離子減薄或雙噴減薄。試樣拋磨器及精密拋磨儀是專為解決這一令人頭痛的問題而設(shè)計(jì)的，它積累了設(shè)計(jì)者在顯微鏡TEM樣品制備過程中多年來積累的經(jīng)驗(yàn)，較好地解決了制樣的倒角問題。該設(shè)備主要適用于金屬、陶瓷及半導(dǎo)體等固體材料的TEM樣品在離子減薄前對(duì)樣品預(yù)減薄與拋光。同時(shí)，也適用于金相樣品的磨制及拋光。
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